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激光粒度仪
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MS2000/NANOS/ZS

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美国

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北京沃特瑞尔科技发展有限公司

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技术参数 1.粒度测定范围:0.6nm-6000nm 2.浓度范围:0.1ppm-40%(W/v) 3.高分辨Zeta电位分析:可分辨5mV的Zeta电位差别 4.粒度测定范围:0.02nm-2000um 5.温度控制范围:2-90度 -------------------------------------------------------------------------------- 主要特点 1.具有*低的纳米粒度下限:可测量亚纳米区及高分子大小 2.具有*宽的浓度应用范围:0.1ppm – 40% (w/v)。*少样品量仅0.75ml。 3.独有的高分辨Zeta电位技术:可轻易发现污染物,并可测定高盐浓度及极低迁移率的样品 4.可对分子量进行测定,包括旋转半径和第二维里系数 5.**具有标准操作规程(SOP)的纳米粒度分析仪器。可随时间及温度变化进行趋势分析;与自动滴定仪相连接后,可自动测定粒度、Zeta电位随pH、盐浓度和电导率变化的,自动测定分子量 -------------------------------------------------------------------------------- 仪器介绍 [下载样本] 2003年5月推出的Zetasizer Nano系列纳米粒度和 Zeta电位分析仪是在2000年7月问世的Zetasizer HS系列和 2001年9月问世的HPPS的基础上发展起来的,它不仅继承了 原有仪器的鲜明特点(如测量范围宽,浓度应用范围广,高分 辨Zeta电位,APD检测器等),而且还发展了许多其它功能,包括 分子量测定,旋转半径,第二维里系数测定,SOP,和随时间及温度的 趋势分析等。Zetasizer Nano ZS作为该系列中的**配置,与自动滴定系统相连后,还可自动进行粒度、Zeta电位和分子量分析,尚无其它厂家仪器可与之匹敌。
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北京沃特瑞尔科技发展有限公司一贯遵从“质量第一,用户至上“的经营方针,认为本公司对所售出之各种仪器设备内在质量负有不可推卸的责任和保证义务,为了更进一步增强客户的信任,保护本公司经销之仪器设备用户的合

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