误差率：
-分辨率：
-重现性：
-仪器原理：
其他分散方式：
-测量时间：
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形态成像技术正迅速成为粒子表征的实验室工具箱中必不可少的技术。提供自动化、快速的颗粒形态学信息，用于解決配方难题，优化材料性能，监控材料颗粒大小稳定性贯穿整个开发和制造过程。这些系统为过程控制和化和提供快速识别工艺偏差的手段。
分散 | 采用静态图像法进行测试，集成真空分散器，超大分散面，微米级分散，测试样本量大。 |
完善 | MIP 软件可提供箱形图，散点图等统计工具，可对同类型参数进行横向对比，亦可对不同类型参数进行关联分析。 |
真实 | 每个粒子的单个二维图像与整个样本的大小和形状分布一起显示。这为结果提供了强大的视觉证明，并可以确认和量化样品分散中存在的聚集体或不需要的粒子。 |
快速 | 自动成像量成干上万个粒子的时间比人工显微镜量少量粒子的时间要短，这使得测量在统计学上更加可靠。粒子图像被自动、客观地捕获、测量、分析和分类，**限度地减少操作者的主观性。 |
精准 | 由于对每个颗粒进行统计分析，故能够精确检出含量极少的“过大颗粒以及较小”颗粒，并可提供数量及体积作为加权因子，使得测试更加科学。 |
高效 | MIP 软件架构不仅可以实时进行数据评估，而且可以在颗粒图库中存储大量的颗粒图像，带有不同颗粒特征信息的颗粒图片可以从颗粒图库中提取出来离线显示和分类统计。 |
磨料、化工、地质、锂电、金属、纤维等颗粒展示：
与传统方法对比
| 性能特点 | R-2000 | 筛分仪 | 激光粒度仪 | 光学显微镜 |
|---|---|---|---|---|
| 宽泛的动态测量范围 | ++ | + | ++ | - |
| 重现性 | ++ | + | ++ | - |
| 窄分布测量和高分辨率 | ++ | - | + | ++ |
| 颗粒形态分析 | ++ | - | - | ++ |
| 分析结果可比性 | ++ | - | + | ++ |
| 大颗粒检测能力 | ++ | ++ | - | + |
| 校正和检验 | ++ | ++ | + | + |
| 操作及维护 | ++ | ++ | ++ | - |
| 统计功能 | ++ | + | - | - |
技术参数
| 技术 | 静态自动成像分析 |
| 测试范围 | 10μm-5cm |
| 执行标准 | ISO-13322-1 |
| 光源类型 | 背向蓝色光源（465纳米）/前向白色光源 |
| 成像系统 | 带有微透镜的线阵CCD |
| 成像分辨率 | **50000*50000（6400dpi）* |
| 粒度参数 | 周长、凸包周长、面积、等效面积直径、等效表面积直径、等效周长直径、**内切圆直径、内径、费雷特**直径、费雷特*小直径、勒让德长径、勒让德短径、测地线长度、*小外接圆直径、平均直径、骨架长度 |
| 粒形参数 | 球形度、椭圆比、延伸率、直线度、卷曲度、不规则度、密实度、圆形度、伸展度、圆度、坚固性、凹度、凸度、高宽比、钝度、卫星化指数、平均灰度 |
| 数据格式 | Excel、bitmap、PDF |
| 可选附件 | 真空分散器 |
| 样品回收 | 100%回收 |
| 尺寸与重量 | 尺寸：（L*W*H）900*450*297mm；重量：20.5kg |
| 工作环境 | 温度：5℃-40℃；湿度：35-80% |
| 电源 | 110-240V 50/60Hz |
注：*拍摄视野为20*20cm时
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