Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时，保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身，用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析，从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。

描述

材料分析和开发

Nexsa 能谱仪具有分析灵活性，可**限度地发现材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以可选多技术联合的形式提供灵活性，从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。

标准化功能催生强大性能：

·绝缘体分析

·高性能XPS性能

·深度剖析

·多技术联合

·双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展

·用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·小束斑分析

可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

·ISS：离子散射谱，分析材料*表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

SnapMap

借助 SnapMap 的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域，同时生成完全聚焦的 XPS 图像，以进一步设置您的实验。

1.X 射线照射样品上的一个小区域。

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

3.随着样品台的移动，不断收集元素图谱

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置，这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap

应用领域

·电池

·生物医药

·催化剂

·陶瓷

·玻璃涂层

·石墨烯

·金属和氧化物

·纳米材料

·OLED

·聚合物

·半导体

·太阳能电池

·薄膜