首页 > 粉体测试设备 > 比表面积测定仪 >
JW-DX 400 比表面积测定仪
JW-DX 400 比表面积测定仪

参考价格

面议

型号

JW-DX400

品牌

精微高博

产地

中国

样本

暂无
北京精微高博仪器有限公司

白金会员

|

第17年

|

生产商

工商已核实

留言询价
电话询价
核心参数
  • 测量范围:

  • 误差率:

  • 分辨率:

  • 重现性:

  • 仪器原理:

    动态色谱法
  • 分散方式:

  • 测量时间:

产品介绍
创新点
相关方案
相关资料
用户评论
公司动态
问商家
留言询价
电话询价
×

*留言类型

*留言内容

*联系人

*单位名称

*电子邮箱

*手机号

提交
点击提交代表您同意 《用户服务协议》《隐私协议》

虚拟号将在 180 秒后失效

使用微信扫码拨号

为了保证隐私安全,平台已启用虚拟电话,请放心拨打(暂不支持短信)
×
是否已沟通完成
您还可以选择留下联系电话,等待商家与您联系

需求描述

单位名称

联系人

联系电话

Email

已与商家取得联系
同意发送给商家
产品介绍
创新点
相关方案
相关资料
用户评论
公司动态
问商家

Outline

产品概览

DX400-JG

Superiority

技术优越性

独有的Dtech技术融合了Dstable稳定测试技术、Dcal自动校正技术、Dtrap精确测试技术、Dsignal高效测试技术及Dctrl防抽飞控制技术,使得DX 400系列的测试效率极高、测试结果的重复性、稳定性、准确性、平行性均达到行业**水平,尤其是对比表面积小于1 m2/g的样品。

DX400技术优越性

Features

产品特点

***技术

不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;(**号20140320453.2)

Dstable稳定测试技术

采用独有的Dstable稳定测试技术确保仪器测试过程中TCD信号不受液氮面变化的影响,保证测试结果的重复性和稳定性。

Dcal自动校正技术

采用便捷的Dcal自动校正技术确保仪器生命周期中TCD信号变化不影响测试结果,保证仪器生命周期中测试结果的重复性和稳定性。

Dtrap精确测试技术

采用独有的Dtrap精确测试技术确保测试过程中TCD信号的控制精度达0.1mV,且不受环境影响,保证测试结果的准确性。

Dsignal高效测试技术

采用独有的Dsignal高效测试技术实现单点BET测试结果在5min内高效完成,测试效率**达5min测试4个样品。

Dctrl防吹飞控制技术

采用独有的Dctrl防吹飞控制技术,避免测试过程中因样品吹飞导致的仪器气路污染,保护仪器运行安全,延长仪器的生命周期。

安全防护机制

为保证仪器的运行安全,
(1)TCD增加尾流传感器,防止TCD干烧,保证TCD信号的稳定性,同时延长TCD的使用寿命。
(2)开发出底层的监护程序,监控仪器的运行状况,当仪器出现异常等危险时,自动控制仪器,解除产生危险的异常状况,保护仪器和操作人员的安全。

多种杜瓦瓶可选

高性能真空玻璃内胆杜瓦瓶,采用自主研发工艺定制生产,既有玻璃内胆的保温效果,又有金属内胆的安全性能,不易碎;
高性价比真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果好,可连续测试10个以上样品;
金属内胆杜瓦瓶,可获得准确结果,安全系数极高;

运行状态直观显示

仪器前面板上配置状态显示系统,显示仪器的工作原理图,每个阀位增加LED灯指示电磁阀的通断,在实验过程中可直观判断仪器的运行过程。

可集联与远程访问

仪器通讯接口为LAN口,可实现一台电脑作为上位机集联控制,可远程访问和控制该上位机电脑。

独立脱气系统

标配完全独立的脱气系统,吹扫和真空两种方式可选,对样品的预处理更智能灵活,更方便。

Software

软件控制

全新开发的DX 400控制软件是在Windows平台上实现操作控制、数据采集、计算分析和报告预览的智能化软件。

测试结果实时计算

测试界面上动态显示每个样品的吸附过程,吸附峰实时显示,每个样品的BET比表面积实时计算。

DX400软件

仪器控制过程实时记录储存

Message窗口可切换显示,实时记录仪器实验控制过程和软件手动操作信息,方便工程师对异常数据的分析和远程诊断。

典型分析实例

BET比表面积重复性<1%

样品测试次数测量值平均值重复值
G919.1649.190.31%
29.222
39.213
49.158
59.162
69.128

BET比表面积重复性<1%

样品测试次数测量值平均值重复值
石墨11.83971.8450.24%
21.8462
31.8482
41.8518
51.8467
61.8393

超小比表面积0.1 m2《》/g的重复性达到0.01m2/g

样品测试次数测量值平均值重复值
正极材料10.12350.1220.0033
20.1189
30.1251
40.1159
50.1242
60.1228

BET比表面积稳定性<1%

样品测试次数测量值平均值稳定性
正极材料19.1680.1860.26%
39.213
79.208
159.158
309.162
609.208

BET比表面积平行性<1%

样品不同设备测量值平均值稳定性
G919.1569.1830.28%
29.163
39.213
49.158
59.192
69.218

Specification

产品参数

通用参数DX 400系列
测试原理流动色谱法低温氮气吸附
测试气体高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)或高纯3:7氮氦混气(99.9999%)
检测器精确到0.1mV的定制型热导池,测试0.1 m2/g的样品可精确到0.01 m2/g。
比表面积范围>0.01 m2/g,标准样品测试重复性<1%,平行性<1%,长时间稳定性<1%
分析站4个
主机规格长700mm×宽410mm×高785mm,重量约30 Kg
环境温度要求15-35℃
环境湿度要求20%-80%,不发生冷凝的环境湿度
电源要求100-240VAC,50/60HZ,**功率200W
推荐应用领域磷酸铁锂、三元、石墨、钴酸锂、锰酸锂等电池正负极材料,以及其他小比表面积材料。


型号DX 440DX 420DX 410
测试功能单点BET比表面积测试直接对比法,单点,多点BET比表面积测试
单点BET测试效率4个样品 5min4个样品 10min4个样品 20min
氮气分压范围0.30.05-0.35(多点BET)


创新点

暂无数据!

相关方案
精微高博 样品量对真密度测试结果的影响

前言真密度是指干燥的试样质量与其真体积的比值(真体积是扣除封闭气孔后的体积)。真密度数值的大小决定于材料组成及纯度,直接影响材料的质量、性能及用途。 传统的真密度测试方法有液体置换法和煮沸法,液体置

2020-01-08

相关资料
用户评论

产品质量

10分

售后服务

10分

易用性

10分

性价比

10分
评论内容
暂无评论!
公司动态
精微高博:起跑就是冲刺,春风4月,火力全开!

粉体材料吸附特性表征全套解决方案精微高博将为广大客户带来比表面积及孔径同步分析仪JW-TB400,动态流动法比表面测定仪JW-DX400、全自动程序升温化学吸附仪AMI-300、穿透曲线与传质分析仪M

精微高博助力碳酸钙产业高质量发展

2024第三届全国碳酸钙产业高值化发展交流大会暨第二届功能母粒材料及应用高峰论坛定于2024年4月10-11号在江西吉安举行,北京精微高博仪器有限公司携适用于碳酸钙、氢氧化钙行业用比表面积测定仪等产品

新质生产力 赋能助科研 ——精微高博仪器助力大规模设备更新

精微高博(JWGB)成立于2004年,推出中国第一台静态容量法氮吸附仪JW-RB,被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”。20年来已发展为集研发、制造、销售、服务于一体的国家级高新技术企业,专业从事比表面积及

技术文章
碳基材料比表面积及孔径分布对CO2捕集性能影响

为了实现“双碳”目标,可以优化生产设备及工艺流程、开发高效能源技术从而提高能源利用率;其次优化能源结构,通过发展氢能、核能等新能源及再生能源;上述两种方式都可以减缓CO2的排放。但是在当前能源结构改变

化学吸附 ▏金属氧化物催化剂的TPR表征技术

化学吸附:金属氧化物催化剂的TPR表征技术金属氧化物催化剂是一类广泛应用于各种化学反应的材料,它们通常具有优异的催化活性、选择性和稳定性。金属氧化物的电子结构和表面特性可以通过选择不同的金属和氧化物来

应用探究 ▏水蒸汽对分子筛吸附分离性能的影响

在许多吸附分离的应用过程中,需要从给定的气体混合物中除去不同极性的蒸气,水蒸气的存在会干扰某些吸附质的吸附分离。例如在温室气体二氧化碳的捕集和储存(CCS)技术中,方法的选择需要综合考虑碳捕集过程的再

问商家
  • JW-DX 400 比表面积测定仪的工作原理介绍?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪的使用方法?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪多少钱一台?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪使用的注意事项
  • JW-DX 400 比表面积测定仪的说明书有吗?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪的操作规程有吗?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪的报价含票含运费吗?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪有现货吗?
  • JW-DX 400 比表面积测定仪包安装吗?
JW-DX 400 比表面积测定仪信息由北京精微高博仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于JW-DX 400 比表面积测定仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
  • 推荐分类
  • 同类产品
  • 该厂商产品
  • 相关厂商
  • 推荐品牌
同品牌产品
JW-DX 比表面积测定仪
关注度 12319
JW-DA 比表面积测定仪
关注度 11796
压汞仪
关注度 22248
竞争性吸附仪
关注度 12778
免费
咨询
手机站
二维码