NPFLEX 三维表面测量系统

针对大样品设计的非接触测试分析系统

灵活测量大尺寸、特殊角度的样品

高效的三维表面信息测量

垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

快速获取测量数据，测试过程迅速高效

• 创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多
• 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位

高效的三维表面信息测量

• 每次测量均可获得完整表面信息，并可用于多种分析目的
• 更容易获得更多的测量数据来帮助分析

垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

• 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
• 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障

测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效

• *少的样品准备时间和测量准备时间
• 比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据

为客户量身订做*合适的仪器配置NPFLEX在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方案，满足不同客户的测量需求：• 可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位，测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。•  获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media，TTM)模块，，结合环境测试腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可对样品进行加热或者冷却，进行原位测量。•可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。纳米级分辨率的三维表面信息测量  大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些品性质，需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航  天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品，往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征，获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。     快速获取数据，保证测试迅速高效  NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。自动对焦，光强调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做**化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。      布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑  Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看**的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！  布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话：010-68474806 -630 传真：010-88417855上海办公室上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail：Sales.asia@br*************产品咨询热线：400-89****** \SOM