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- -Technical Parameters
Test principal: Continuous Flow Chromatography method, Low temperature nitrogen adsorption
Test methods: Direct Comparison method, BET (single-point, multi-point), Langmuir surface area
Adsorption gas: N2 (Adsorbate 99.999%), He (Carrier 99.999%)
Flow control: automatic control program, P / Po 0.05 - 0.35, control accuracy error ≤ 0.5%;
Control efficiency: 0.01 ml / min, each point of P/Po adjustment ≤ 5 seconds
Calibration: the quantitative volume of nitrogen used for calibrating automatically
Measuring range: Surface area ≥ 0.01m2/g, no upper limits;
Sample NO: 4
Test Efficiency: Direct comparison measures specific surface area: 5-8 minutes per sample
BET surface area: 25 minutes per sample
Repeatability Accuracy: ≤ ±1 %
微孔bet比表面积分析仪
JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌,配备有“涡轮分子泵”及1torr小量程压力传感器,配合微孔分析模型的准确应用,完全实现了微孔的精确分析,氮吸附微孔小孔径实际可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究。
炭黑外比表面积分析仪性能参数:
仪器型号:JW-BK200C 炭黑外表面分析仪
原理方法:静态容量法,低温氮吸附;
测试功能:等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析;t-plot法、αs- plot法、DR法、MP法微孔常规分析;HK法、SF法微孔精确分析;NLDFT法孔径分布分析;真密度测试;气体吸附量、吸附热测试;质量输入法测试;
测试气体:氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷等;
测试范围:比表面0.0005m2/g至无上限,孔径3.5 nm-5000 nm;
孔体积测试范围:0.0001cc/g至无上限;
重复精度:比表面积≤± 1.0%,孔径≤0.2 nm;
测试效率:比表面积平均每样15min;介孔、大孔分析平均每样2-3小时;微孔分析平均每样5-8小时;
分析站:2个完全独立微孔分析站,双站可同时进行测试;
P0位:2个完全独立P0站;
升降系统:2个样品分析站原位设有2套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰;
真空系统:多通路并联抽真空系统,集装式模块化设计,真空抽速微调阀系统**技术,可在2-200ml/s范围内自动调节;
真空泵:外置式进口双级旋片式机械真空泵(自动防返油)+ 内置式进口涡轮分子泵,极限真空度可达10-6Pa;
脱气系统:同位、异位真空脱气预处理系统标准化设计,由单独的进口压力传感器控制,完全同分析位分开,可实时、准确测量脱气系统的真空度:2个独立加热包,2套独立温控表,均可程序升温控制,升温阶数多达10阶,既可进行样品的同位脱气处理,也可进行样品的异位脱气处理;2个样品进行分析测试的同时,可以进行另外两个样品的真空脱气处理;
脱气温度:室温—400℃,精度±1℃;
压力传感:原装进口,1000torr、10torr、1torr,精度≤± 0.15%(读值);
分压范围:P/P0 10-8-0.998;
压力控制:平衡压力智能控制法,压力可控间隔<0.1KPa,吸附高压力点可自动控制;
数据采集:以太网数据采集,采集速度快、精度高,兼容Windows 7/XP 32/64位系统;
微孔bet比表面积分析仪技术特点:
●完全独立双站并列分析,可同时进行两个样品的孔径分析,及两个样品的脱气处理,测试效率高; ●仪器设有两个异位脱气站,分析站同时具有同位脱气功能,人性化设计;高脱气温度400℃; ●双站多点BET比表面测试,30分钟内可自动完成; ●采用液氮面控制综合系统及软件补偿技术,确保整个测试过程中样品室非均匀温度场相对恒定,以确保分析的准确性,适合液氮、液氩、冰水等各种冷浴; ●引进国外先进恒温夹技术,配备3L大容量真空玻璃内胆杜瓦瓶及防液氮挥发单元,保证实验可持续进行72小时; ●自控可调式多通路并联抽真空系统,内置式防飞溅单元,及“阶梯式”防飞溅程序,有效防止超细微粉抽飞,完全避免仪器受到污染; ●原装进口涡轮分子泵,及原装进口机械真空泵联合使用,分析站、脱气站极限压力高达10-8,完全满足0.35nm-0.7nm超微孔分析; ●原装进口1000torr、10torr、1torr(可升级为0.1torr)不同量程三段压力传感联合使用,压力数据采集精度高、误差小,完全满足微孔精确分析; ●介孔微孔实验过程中氮气饱和蒸汽压P0完全实时测试,同分析站并列进行;同时可采用大气压输入法测P0; ●样品脱气系统设有冷阱装置,可以有效去除样品脱气可能挥发出的水分、有害物质等杂质,避免真空系统受污染; ●仪器控制面板设有阀位控制指示灯,实验者能更直观清晰可见控制阀工作状态,人性化设计; ●非定域密度函数理论NLDFT分析模型标准配置,达到国际**; ●HK、SF微孔分析模型应用准确,微孔分析技术国内一家通过中国计量院计量认证; ●平衡压力智能控制技术,样品吸/脱附平衡压力自动判断及数据采集,等温吸脱附曲线测定的控制精度达到国际**; ●以太网数据采集及处理软件,引导式操作,一套软件可同时控制多台仪器,可远程控制;
微孔bet比表面积分析仪应用领域:
●催化剂材料:活性氧化铝、分子筛、沸石等; ●环保领域:活性炭等吸附剂; ●纳米材料:纳米陶瓷粉体(氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等)、纳米金属粉体(银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等)、纳米高分子材料、碳纳米管等; ●煤矿行业:煤、矿石、岩石、页岩气、煤层气等; ●其他材料:超细纤维、多孔织物、复合材料等。
微孔bet比表面积分析仪技术小贴士:
比表面积分析实用技术介绍:
气体吸附法比表面积及孔径分布(孔隙度)测试中,有几个因素对测试过程和结果会产生非常重要的影响。对测试结果的有效分析需考虑这些因素。这些因素包括:样品处理条件,吸附质气体特性,测试方法的不同等,以下分别进行详细介绍。
样品处理条件
由于比表面积和孔隙度的测定与颗粒的外表面密切相关,且吸附法测定的关键是吸附质气体分子“有效地”吸附在被测颗粒的表面或填充在孔隙中,因此样品颗粒表面的是否“洁净”至关重要。样品处理的目的主要是让被非吸附质分子占据的表面尽可能地被释放出来,以便测试过程中有利于吸附质分子的表面吸附,一般的样品测定前都需进行预处理,处理的方法依测定的样品特性进行选择。一般情况下,大多数样品需要去除的是其表面吸附的水分子,因此高于100℃(一般取105℃-120℃)常压下的烘干即可达到此目的,这样有利于简化操作流程。对于含微孔类的或吸附特性很强的样品,常温常压下就很容易吸附杂质分子,或是在制造过程中导致其表面吸附很多其它分子,通常情况下有必要在真空条件下进行脱气处理,有时还必须在预处理过程中通入惰性保护气氛,以利于样品表面杂质的脱附。总之,样品预处理的目的是使样品表面变得洁净,以确保比表面积及孔径(孔隙度)测量结果的准确有效。
吸附质气体特性
气体吸附法比表面积及孔径分布分析测试中,对吸附质气体基本要求是其化学性质稳定,被吸附过程中不会对样品本身的性能和表面吸附特性产生任何影响,且必须是可逆的物理吸附。氮气是常用的吸附质,实践表明,绝大多数物质的测定选择氮气作为吸附质,测试的结果准确性和重复性都很理想。对于含有微孔类的样品,若微孔尺度非常小,基本接近氮气分子的直径时,一方面氮气的分子很难或根本无法进入微孔内,导致吸附不完全;另一方面,气体分子在与其直径相当的孔内吸附特性非常复杂,受很多额外因素影响,因此吸附量大小不能完全反应样品表面积的大小。对于这类样品,一般采用分子直径更小的氩气或氪气来作为吸附质,以利于样品的吸附和保证测试结果的有效性。
测试方法因素
不同的测试方法对测试结果也会有很大的影响,不同的测试方法有着各自的优缺点。连续流动法中,由于采用的是“对比”的原理,相比容量法,能有效降低样品处理对测试结果的影响。通过对比的方法,在某种程度上,标准样品和被测样品由于处理的不完善导致的误差可以抵消掉,前提是两种样品的表面结构和吸附特性相近似,处理条件相同。这对于用于产品质量现场控制目的的检测非常有价值,减少样品处理时间,可以大大提高检测效率。如果用同样的物质作为标准样品和被测样品,由于表面结构和吸附特性近似,比表面积测试结果就会对样品处理条件不敏感,换句话说就是误差被抵消掉。因此连续流动法非常适合产品质量现场检测。相反,容量法可以说对样品处理非常敏感,因其采用的是的吸附量测定原理,任何的表面不洁净或其它影响吸附质吸附过程的因素都会对测定结果产品直接的影响。
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