CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I

CAMTEK公司总部位于以色列，是一家致力于自动光学检验的设备商。CAMTEK主要的检测领域包括：Wafer、PCB、HDI。 Wafter 检测设备主要用于检测Bump， RDL， Pad， UBM， Via，化合物CD关键尺寸等。

CAMTEK产品主要分为半导体和PCB（PCB制版过程中及成品的AOI测试)两大部分。他们半导体和PCB是完全分开的。半导体分为前道制程（磨抛后划伤及显影后图形化等的AOI测试，型号为GANNET）和芯片成品后划片前和后的AOI测试（型号为FALCON系类和CONNOR系类）。

一、检测原理：

他们的检测原理与MVP有点类似，都是通过工业相机进行图像采集，然后用影像处理软件对图像进行分析，对于不同的检测应用，他们的软件中有专门的算法来做判断。所以他们的产品优势在于影像处理的硬件和软件方面。

二、主要应用领域：

CMOS传感器阵列，LED，MEMS，TSV，mBUMP等。

Eagle-I是2D表面缺陷检测和计量的***的2D检测设备，采用了CAMTEK***的检测系统。

大量产的2D检测适用于部分前道工艺：

电镀bump前后检测

电测针印大小的检测

划片后的检测等

同时又适用于器件的检测：

CMOS 图像传感器

MEMS特殊结构监测

LED良率监测测等

EagleT-i是专为速度和精度而设计，是市场上*快，*准确的2D检测设备之一。其中囊括了CAMTEK***的机构、**的镜头、**速的传输信道

基于CAD图层检测

****的图像锐化功能

可以检测RDL后小到2um线宽

兼容检测方片、翘曲片

可以检测小到0.2um的表面缺陷

多重放大倍数，提高检测能力

产品介绍

1. Eagle-I

Eagle是大量产的2D检测设备，采用了CAMTEK***的检测系统。

2. Eagle-AP(3D/2D)

Eagle是大量产的2D检测设备，采用了CAMTEK***的检测系统。

3. EagleT-i

EagleT-i是AOI市场上2D检测速度*快的设备之一，其中囊括了CAMTEK***的机构、**的镜头、**速的传输信道。