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TMS透过率测量仪能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的透过率,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。
仪器特点:
检测范围广:球面、非球面、塑料制品散透射等测量
测试速度极快,1秒出结果,实现产品全检
极小样品的透过率检测
测试对象:
手机IR孔
光学元件
太阳眼镜
漫、散射塑料片
技术参数:
型号 | TMS (I型) | TMS (Ⅱ型) | TMS (III型) |
---|---|---|---|
探测器 | Sony线形CCD阵列 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD |
检测范围 | 380-1000nm(TMS-UV:200-850nm) | 380-1100nm(TMS-UV:200-1100nm) | 360-1100nm(TMS-UV:225-1000nm) |
信噪比(全信号) | 250 : 1 | 450 : 1 | 1000 : 1 |
相对检测误差 | <0.6%(410-900nm) | <0.4%(410-1000nm) | <0.2%(410-1000nm) |
检出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
CCD制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20℃ |
单次测量时间 | <1s | ||
样品尺寸 | ≥Φ1.5mm (显微:≥0.8mm) | ||
光斑 | 可调,≥ Φ0.6mm(显微≥0.3mm) | ||
操作系统/接口 | Windows7~Windows10/ USB2.0 | ||
电源/功率 | 220V-50HZ /6W |
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