LJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内i高的160MHz。 LJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：

1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

7 计算机自动修正技术和测试回路z优化 —使测试回路 残余电感减至zui低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

　　LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

主要技术特性

Q 值测量范围

2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档

固有误差

≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

工作误差

≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

电感测量范围

4.5nH ～ 140mH

电容直接测量范围

1 ～ 200pF

主电容调节范围

18 ～ 220pF

主电容调节准确度

120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％

信号源频率覆盖范围

100kHz ～ 160MHz

频率分段 （ 虚拟 ）

100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz，10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz

频率指示误差

3 × 10 -5 ± 1 个字

信号源频率范围

DDS数字合成 10KHz-60MHz

Q测量范围

1-1000自动/手动量程

信号源频率覆盖比

6000:1

Q分辨率

4位有效数，分辨率0.1

信号源频率精度

3X10 -5 ±1个字，6位有效数

Q测量工作误差

<5%

电感测量范围

15nH-8.4H，4位有效数，分辨率0.1nH

调谐电容

主电容30-500PF

电感测量误差

<5%

调谐电容误差和分辨率

±1.5P或<1%

标准测量频点

全波段任意频率下均可测试

Q合格预置范围

5-1000声光提示

谐振点搜索

自动扫描

Q量程切换

自动/手动

谐振指针

LCD显示

LCD显示参数

F，L，C，Q，波段等