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FT-3120 系列半自动四探针测试仪
一.功能描述:
四点探针标准测试方法,采用步进系统自动控制探头与样品接触,减少人为因素对测试结果的影响;参照A.S.T.M 标准;测量方块电阻、电阻率、电导率数据、PC软件采集和数据处理实现自动点测模式或手动点测模式,同一位置的重复测试或多点的面电阻测量,报表输出数据统计分析;提供标准校准电阻件.
二.适用范围:
晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等.
三.技术参数:
规格型号 | FT-3120A | FT-3120B | FT-3120C | FT-3120D |
1.电阻 | 10^-3~2×10^4Ω | 10^-5~2×10^5Ω | 10^-6~2×10^5Ω | 10-4~1×107Ω |
2.方块电阻 | 10^-3~2×10^4Ω/□ | 10^-5~2×10^5Ω/□ | 10^-6~2×10^5Ω/□ | 10-4~1×107Ω/□ |
3.电阻率 | 10^-4~2×10^5Ω-cm | 10^-6~2×10^6Ω-cm | 10-7~2×106Ω-cm | 10-5~2×108Ω-cm |
4.测试电流 | 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA | |
5.电流精度 | ±0.1% | ±2% | ||
6.电阻精度 | ≤0.3% | ≤10% | ||
7.PC软件操作 | PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、数据管理分析:过程数据,大、小值,均值,方差,变异系数,样品编号,测试点数统计报表生成等 | |||
8.探针范围: | 探针压力为100-550g;依据样品接触需要手动调节 | |||
9.探针 | 针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3% 圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制 | |||
10.可测晶片 尺寸选购 | 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm); 方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm | |||
11.分析模式 | 自动或手动单点模式 | |||
12.加压方式 | 测量重复性:重复性≤3% | |||
13.安全防护 | 具有限位量程和压力保护;误操作和急停防护;异常警报 | |||
14.测试环境 | 实验室环境 | |||
15.电源 | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<100W | |||
16.选购项目 | 电脑和打印机 |
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