产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪

产品说明、技术参数及配置

CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界**、国内**水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为“国家重点新产品”，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外***的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。

适用范围

钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析；

耐火材料：各类样品成份分析；

有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析；

质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。

型号：CIT-3000SM

性能特点

采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；

采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；

采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测；

高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作；

样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂；

腔内环境：空气或真空；

真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围；

2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成；

可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析；

自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定；

专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件；

全中文Windows应用软件，操作简单。

技术指标

分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等

分析范围：1ppm-99.99%

同时分析：20多种元素同时分析

能量范围：1-30keV

测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析

探测器的分辨率：150ev

管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 μA

仪器的分析精度：标准偏差≤0.08%

分析误差：优于国家标准要求

辐射剂量：<25μsv/h.

工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH

電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz

仪器配置

仪器主机一台

控制面板

进口电制冷半导体探测器

X光管（1KV-40KV）

高压电源

计算机一台

激光打印机一台

真空泵一台

压片机一台

制样模具一套

稳压电源一台

测试软件一套