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高精度微纳米拉伸仪
高精度微纳米拉伸仪

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T150 UTM 系统提供了一种测量静态和动态微拉伸性能的非常**的方法。设备采用了一种独特设计的纳米力学激励传感器,使得系统既能够进行大应变实验,又能进行小应变测试(高分辨率)。连续动态分析(Keysight CDA)是KT公司的**技术,通过施加一个纳米量级的简谐信号以及反馈控制,KLA-Tencor CDA 可以进行连续拉伸过程中不同应变状态下的储存模量和损耗模量测量。UTM 系统可以快速测量弹性模量、屈服强度、极限抗拉强度以及失效测量等。

创新技术和优势

传感器的精度高,稳定性和重复性好,人性化的界面设计,使用方便。

多种加载模式:恒载荷速率、恒位移速率、恒应变速率以及阶梯加载。

动态和静态拉伸测试

电控部分采用了全新的第三代技术,仪器的稳定性更高,实现了更高速的数据采集和传递,并且做到数据的实时

处理和显示,包括硬度和弹性模量在压入过程中的实时显示。

厂。

国内高水平的专业人员和国际科学家的技术支持。

UTM T150 主要技术指标

载荷500mN

载荷分辨率50nN

作动器位移±1mm

位移分辨率<0.1nm

动态位移分辨率<0.001nm

横梁拉伸150mm

拉伸分辨率35nm

拉伸速率0.5um/s to 5mm/s

动态频率范围0.1Hz to 2.5kHz

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