参考价格
面议型号
AFM-in-Phenom XL品牌
飞纳产地
荷兰样本
暂无分辨率：
0.2nm×0.2nm×0.04nm探测器：
*加速电压：
*电子枪：
*电子光学放大：
*光学放大：
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全新发布的 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。
· 设备扫描范围（开环）：100μm×100μm×20μm
· 设备扫描范围（闭环）：80μm×80μm×16μm
· 分辨率：0.2nm×0.2nm×0.04nm
· **样品尺寸：21mm×11mm×8mm
· **样品重量：100g
· 成像模式：表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等
全新发布的 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。
2020-12-09
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2020-12-21
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2020-12-21
2020-12-21
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