无损检测用X射线平板探测器图片
本图片来自滨松光子学商贸(中国)有限公司提供的无损检测用X射线平板探测器,型号为的无损检测/无损探伤仪器,产地为日本,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的C12562纳米膜厚测量仪系列、C10178-01纳米膜厚测量仪系列等产品。滨松光子学商贸(中国)有限公司是中国粉体网的会员,合作关系长达2年,工商信息已通过人工核验,获得粉享通诚信认证,请放心选择!
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