德国RETSCH（莱驰）公司致力于实验室样品前处理的研究，主要生产研磨、粉碎、筛分及粒度分析的设备，与上海颗粒学会的研究对象不谋而合。数年来两者一直保持着良好的合作关系，2008年6月RETSCH公司在上海举办样品前处理技术交流会还特邀蔡小舒教授做了关于“颗粒粒度表征和测量”的精彩报告。

围绕对颗粒学的研究，德国RETSCH（莱驰）的多功能粒径分析仪Camsizer能帮助用户实现一次进样，同时得到粒度大小、个数、分布、球形度、对称性、密度、表面积等综合信息，提高分析效率。这台Camsizer采用了双镜头的专利设计，测量范围广，对于大颗粒也能进行测量，进样量大，具有代表性, 并实时保存图像，对非规则颗粒，有着更为正确的粒径表征。不同于激光粒度仪，它无需输入折射率；不同于筛分仪，它更省时省力；不同于显微图像法，它表征的是颗粒各个方向上的动态数据，因此Camsizer特别适用于催化剂、聚合物、玻璃准、标准物、食品、饲料、岩矿、地质等行业的应用。

最后，来自上海大学的施利毅教授、华东理工大学顾峰教授分别做了关于纳米材料等研究及应用的精彩报告，会议在浓厚的学术气氛中结束。

上海颗粒学会作为一个专业的平台，让莱驰与国内用户及科研院校、企事业单位能够更好的交流，让RETSCH仪器能够为分析方法的研究做更大的贡献！