本次讲座由贝克曼库尔特公司美国总部资深技术专家、颗粒分析仪器届知名人士许人良博士主讲。在近4个半小时的时间里，许博士作精彩的演讲。讲座中他分别介绍了纳米粒度测量的最新国际标准与相应的测量新技术、贝克曼库尔特公司独有的美国专利---透明电极测量高浓度ZETA电位技术、创新的固体表面ZETA电位测量技术、粉体干法测量的先进技术----“龙卷风”激光粒度仪，以及全球著名的Multisizer系列最新的库尔特计数仪。

       在技术问答环节，由于听众提问踊跃，时间远远超出设定时间，使得“技术问答”环节一直延续到晚饭的饭桌之上........