手机版

扫一扫,手机访问

关于我们 加入收藏

复纳科学仪器(上海)有限公司

5 年金牌会员

已认证

拨打电话
获取底价
提交后,商家将派代表为您专人服务
立即发送
点击提交代表您同意 《用户服务协议》
当前位置:
复纳科技 >技术文章 >

扫描电镜如何轻松高效地研究先进陶瓷材料?

扫描电镜如何轻松高效地研究先进陶瓷材料?
复纳科技  2020-12-21  |  阅读:2522

手机扫码查看

先进的陶瓷材料在航空航天,电子,医疗保健,新能源,汽车等等行业均有着广泛应用。为满足高熔点,高模量和硬度以及高耐腐蚀性和热膨胀性等性能指标要求,往往需要进行相应的性能优化。而性能跟晶粒尺寸和体积,微结构,元素分布,孔隙率和表面粗糙度是密切相关的。对此,飞纳台式扫描电镜可以为科研或生产人员提供多种有效表征方案。

陶瓷的晶粒尺寸和微观结构会影响材料的性能。扫描电镜(SEM)图像用于量化晶粒尺寸和分布,可以指导陶瓷的生产条件,通过优化晶界和微观结构,以满足特定性能指标的需求。

陶瓷晶粒尺寸和面积

对于下图的高级陶瓷加热元件材料,背散射电子探测器(BSD)图像显示了不同材料衬度。这样可以轻松确定晶界并分析陶瓷材料的扫描电镜(SEM)图像,以确定晶粒尺寸和面积。

陶瓷加热元件的背散射电子图像


相同陶瓷加热元件的背散射电子图像


许多陶瓷材料可以通过烧结产生所需的机械性能。使用背散射电子图像可以量化晶粒尺寸和覆盖率。将全景拼图与飞纳台式扫描电镜(Phenom SEM)结合使用,自动进行数据采集与统计分析,实现完整的分析工作流程。

30 张扫描电镜(SEM)图的拼接图像(左下方)。总采集时间不到 3 分钟。分析拼接图像的晶粒晶界,如右下方所示,结果显示此陶瓷样品的黑色为 5%,灰色为 78%,白色为 17%。利用晶粒尺寸与分布数据可对加工条件进行优化,以满足产品要求。

高级陶瓷材料的 30 张 Phenom SEM 图像的拼图(左)和晶粒分析图像(右)

除此之外,你还可以使用飞纳电镜提供多种模块,对陶瓷材料更全面的表征,有了这些工具,你的文章再也不缺炫酷的图表数据啦。

下图1,利用颗粒系统,对第二相进行晶粒度统计,并导出柱状图;图2,对材料表面进行 3D 立体重建,也可以进行粗糙度测量;图3,利用纤维系统,对陶瓷纤维直径与方向进行统计;图4,利用能谱对材料进行元素成分分析。


相关产品

更多

AFM-SEM原子力扫描电镜一体机

型号:AFM-in-Phenom XL

面议
Phenom MAPS 大面积图像拼接

型号:Phenom MAPS

面议
ChemiSEM 彩色成像

型号:ChemiSEM

面议
飞纳电镜全景拼图【新品】

型号:Automated Image Mapping

面议

虚拟号将在 秒后失效

使用微信扫码拨号

为了保证隐私安全,平台已启用虚拟电话,请放心拨打(暂不支持短信)
留言咨询
(我们会第一时间联系您)
关闭
留言类型:
     
*姓名:
*电话:
*单位:
Email:
*留言内容:
(请留下您的联系方式,以便工作人员及时与您联系!)