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在材料科学和纳米技术领域,精确制备高质量的透射电子显微镜(TEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)样品是实现原子级分辨率成像和分析的关键。Technoorg Linda 公司生产的 Gentle Mill 离子精修仪以其卓越的低能量离子束技术,为科研人员提供了一种高效、清洁的样品精修解决方案,广泛应用于各种材料的微观结构和性能研究。本文精选了 11 篇使用 Gentle Mill 离子精修仪发表的文献期刊(排名不分先后),展示了该设备在材料科学领域的广泛应用和显著成就。
01. 钙钌氧化物超薄膜中异常尺寸效应的增强
关键词:超常尺寸效应,超薄膜,CaRuO3
发表文章:Enhancement of Extraordinary Size Effect on CaRuO3 Ultrathin Films
发表期刊:ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员利用 Gentle Mill 离子精修仪制备了超薄、清洁的钙钌化物样品,并通过原子分辨率的 STEM 观察,深入探究了其异常尺寸效应的增强现象。该研究借助 Gentle Mill 的低能量 Ar 离子束(0.3–1 keV)对样品进行精修,成功去除了样品表面的损伤层,为后续的高分辨率成像提供了高质量的样品。
02. 通过 STEM 进行 InGaN 的成分 mapping 分析
关键词:定量 STEM 分析,成分确定,多层切片模拟,冷冻晶格模拟
发表文章:Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy
发表期刊:Ultramicroscopy
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员使用 Gentle Mill 离子精修仪制备了清洁的 InGaN 样品,并通过原子分辨率观察,探索了一种使用完全定量 STEM 成像进行 In 浓度 mapping 分析的方法。Gentle Mill 在该研究中用于去除样品表面的损伤区域,确保了样品的高质量和分析结果的可靠性。
03. 铟掺杂氧化锌反转畴内金属亚晶格位移场测量
关键词:球差校正电镜,位移场,掺杂化合物
发表文章:Displacement field measurement of metal sub-lattice in inversion domains of indium-doped zinc oxide
发表期刊:Ultramicroscopy
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员借助 Gentle Mill 离子精修仪制备了超薄、清洁的非均相氧化物样品,并对其金属内亚晶格位移场进行了测量。该研究中,Gentle Mill 利用低电压离子束(1 keV Ar+离子)对样品进行双面精修,确保了样品的超薄厚度和高质量,为后续的高分辨率成像和分析提供了有力支持。
04. 使用低电压进行原子尺度的元素 mapping
关键词:EELS,高分辨 mapping,STEM,多层切片计算
发表文章:Elemental mapping at the atomic scale using low accelerating voltages
发表期刊:Ultramicroscopy
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员使用 Gentle Mill 离子精修仪制备了超薄、清洁的 SrTiO3(STO)样品,并通过 EELS 技术对其进行了原子尺度的元素 mapping 分析。Gentle Mill 在该研究中用于对样品进行最终的离子束抛光,确保了样品的高质量和分析结果的精确性。
05. 碳含量对奥氏体/ε-马氏体双相 Fe-Mn-C 钢的微结构、马氏体转变和力学性能的影响
关键词:高锰钢,变形诱导的马氏体,TEM,EBSD
发表文章:Influence of carbon content on the microstructure,martensitic transformation and mechanical properties in austenite/e-martensite dual-phase Fe–Mn–C steels
发表期刊:Acta Materialia
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员借助 Gentle Mill 离子精修仪清除了钢铁FIB 样品上的 Ga 离子污染,从而对其结构、相变和性能进行了准确、可靠的研究。该研究中,Gentle Mill 利用低能量离子束(0.5 kV)对样品表面进行了精修,有效去除了 FIB 加工过程中产生的 Ga 离子污染,为后续的高分辨率成像和分析提供了清洁的样品。
06. 使用 STEM 进行皮米精度的局域晶体结构分析
关键词:STEM,晶体结构分析,环形暗场像
发表文章:Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscopy
发表期刊:Ultramicroscopy
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员利用 Gentle Mill 离子精修仪制备了超薄的 TmFeO3 样品,并对其局域晶体结构进行了皮米精度的分析。Gentle Mill 在该研究中用于对样品进行机械减薄和低电压离子束精修,确保了样品的超薄厚度和高质量,为后续的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。
07. Sm 掺杂 BiFeO3 铁电外延薄膜中反极性团簇的纳米级结构和化学性质
关键词:纳米结构,反极性团簇,铁电薄膜
发表文章:Nanoscale Structural and Chemical Properties of Antipolar Clusters in Sm-Doped BiFeO3 Ferroelectric Epitaxial Thin Films
发表期刊:CHEMISTRY OFMATERIALS
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员借助 Gentle Mill 离子精修仪制备了清洁的掺杂 BiFeO3 外延薄膜,从而研究了其纳米级结构和化学性质。Gentle Mill 在该研究中用于对样品进行双面精修,确保了样品的清洁度和高质量,为后续的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。
08. 为透射电镜开发的单色器的实践工作
关键词:单色器,EELS,空间分辨率
发表文章:Practical aspects of monochromators developed for transmission electron microscopy
发表期刊:Microscopy
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
借助 Gentle Mill 离子精修仪,研究人员可以制备清洁的 STO 样品,从而检验透射电镜单色器的实际效果。
09. 探索实空间中原子内部电荷密度分布
关键词:球差矫正STEM,DPC,电场像,GaN
发表文章:Probing the Internal Atomic Charge Density Distributions in Real Space
发表期刊:ACS Nano
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员利用 Gentle Mill 离子精修仪制备了超薄、清洁的 GaN 样品,并探索了其内部的电荷密度分布。Gentle Mill 在该研究中用于对样品进行离子束精修,确保了样品的高质量和分析结果的可靠性。
10. 平衡态 Ni–Al2O3 界面处固-固界面重构
关键词:界面能,界面结构,TEM,重构
发表文章:Solid–solid interface reconstruction at equilibrated Ni–Al2O3 interfaces
发表期刊:Acta Materialia
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
科学家们借助 Gentle Mill 离子精修仪制备了超薄、清洁的 Ni–Al2O样品,并研究了其固-固界面的重构行为。Gentle Mill 在该研究中用于对样品进行低电压离子抛光,确保了样品的高质量和分析结果的可靠性。
11. 关联 APT 和 STEM 研究揭示了含 Al 和 Gd 的 Mg 合金中 LPSO 相的生长序列
关键词:APT,关联成像,Mg合金,长程堆叠有序(LPSO)
发表文章:Correlative atom probe tomography and scanning transmission electron microscopy reveal growth sequence of LPSO phase in Mg alloy containing Al and Gd
发表期刊:Scientific Reports
使用仪器型号:Technoorg Linda Gentle Mill 离子精修仪
研究人员利用 Gentle Mill 离子精修仪去除 TEM/STEM 观察时的污染物,制备了清洁的 Mg 合金针尖,并进行了关联的 APT 研究,从而揭示了其生长序列。Gentle Mill 在该研究中用于对样品进行低能量离子束精修,确保了样品的清洁度和高质量,为后续的高分辨率成像和分析提供了有力支持。
Technoorg Linda 公司生产的 Gentle Mill 离子精修仪凭借其低能量离子束技术和高效精修能力,已成为材料科学领域不可或缺的工具。通过上述 11 篇文献的精选,我们可以看到 Gentle Mill 在多种材料的微观结构和性能研究中发挥了重要作用,为科学家们提供了高质量、清洁的样品,助力他们在原子级分辨率下实现精确的成像和分析。无论是在金属氧化物、半导体材料还是合金体系中,Gentle Mill 都展现出了卓越的性能和可靠性,为材料科学的前沿研究提供了有力支持。
Gentle Mill 离子精修仪--用于FIB样品处理
Gentle Mill 离子精修仪产品采用氩离子束,专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。其配备了专利设计的低能氩离子枪,离子束能量最低可达 100eV,可把非晶层厚度精修到 1nm 以下,获得样品的真实信息。
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