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真理光学高端粒度仪亮相CPhI China 2019

真理光学高端粒度仪亮相CPhI China 2019
真理光学  2019-02-14  |  阅读:1110

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第十九届世界制药原料中国展CPhI China 2019暨第十四届世界制药机械、包装设备与材料中国展P-MECChina 2019将于于2019年6月18-20日在上海浦东新国际博览中心举行,珠海真理光学仪器有限公司将携高端激光粒度仪等产品参加,展位号:W5D82,欢迎关注、届时莅临交流!

 

 

本届展会将首次覆盖全部17个展馆,开创史上最强阵容!展览面积200,000平方米,将吸引来自来自20余个国家和地区的3,000余家公司参展。

 

真理光学,成就高端粒度仪器。

珠海真理光学仪器有限公司专注于颗粒表征和分析仪器的研发和生产,从固体颗粒到乳液、喷雾,真理光学始终致力于为客户提供专业、全面的应用技术方案!公司产品:激光粒度仪,纳米粒度仪,喷雾粒度仪等。

 

LT3600S Plus激光粒度分析仪是真理光学基于20余年颗粒表征经验研发的智能全自动粒度仪,加持了多项创新和专利技术,无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.018微米至2800微米,测量速度高达10000次/秒,兼具极高的灵敏度和重现性,对所有类型的样品均可获得准确可靠的结果。产品广泛应用于化工、制药、电池、水文地质、矿业、水泥、涂料、稀土、军工航天、墨粉、3D打印和粉末快速成型等诸多行业颗粒粒度测量。

 

LT2200E激光粒度仪加持了偏振滤波专利技术,摒弃传统的针孔和机械调整,实现高稳定激光偏振设置和空间滤波;真理光学首创的衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术的使用,使用户无需选择分析模式,即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果。 LT2200E粒度仪的粒径范围为0.1um-1200um, 适用于制药,电池材料,地质,水文,化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。

 

Nanolink S900纳米粒度仪采用经典90°动态光散射技术,粒径范围:0.6nm-10μm;配备新一代高速数字相关器,最小采样时间25ns,动态范围大于10¹¹;拥有集成光纤技术的军品级PMT检测单元(APD可选);配置532nm 50mW大功率固体激光器,能量输出自动调节;干燥气体吹扫技术实现冷凝控制,温控范围可满足0℃-90℃,精度±0.1℃。新一代高速纳米粒度分析系统,被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶束、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。SZ900除了具备颗粒表征功能外,还能测量胶体的Zeta电位。

 


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