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在轴On Axis装调测试系统
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美国
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在轴(On Axis)又称轴上,近轴,是许多光学装配工作首要解决的问题。根据我们经验,大部分的光学系统,只要在轴光学装配达到要求,基本可保证90%以上的*终光学质量达到要求。

我们的轴上装调测试系统,以我们的波前探测仪器(OMI , Optino)系列和精密光学测量仪器(Lentino, OPAL)为主要辅助测试手段,并根据实际产线和产品特性,设计测试光路,搭建系统。

对于装配、调校的光学质量,我们通过监控透射波前畸变、像差系数、MTF等,这些都是动态、实时显示的:

同时显示调整的方向箭头,其中箭头表示调整方向,箭头的长短表示调整的位移量。

在此基础之上配套相应的夹具、装校装置、点胶固化装置等,提供整套集成服务的交钥匙工程。

我们的销售和技术人员,讨论您的实际应用,为改造您的制程提供我们的专业服务!

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