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产品简介
本系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或近紫外激光激发半导体材料（如GaN、Zno、CdTe 等）产生荧光；或用可见、红外激光器激发稀土参杂的玻璃或晶体材料产生的荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析材料能带结果等特征。
| 系统型号 | 系统特点 |
| 7-PLSpec I | 常温扫描型 |
| 7-PLSpec II | 低温扫描型 |
| 7-PLSpec M | Mini 摄谱型 |
技术指标
- 光谱范围：200-2500nm (可根据实际需要选择）
- 波长准确度：±0.2nm
- 光谱分辨率：±0.1nm
- 光谱带宽：0.2-10nm 可调
- 光源波长：224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1946nm等可选
- 可升级做透射、反射光谱测试
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