编号：FTJS06066
篇名：XPS在YAG：Ce3＋荧光粉中Ce3＋半定量分析方面的应用
作者：王廉明[1] ;庄李强[1] ;黄月霞[1] ;王德强[1]
关键词：YAG:Ce3+荧光粉 半定量分析 发光强度 Ce抖相对含量 XPS
机构： [1]华东理工大学材料科学与工程学院,上海200237
摘要： 利用XPS测试方法对YAG：Ce3＋荧光粉中的Ce抖含量进行了半定量分析，为研究Ce3＋含量与YAG：Ce3＋荧光粉发光强度的关系，在不同的烧结气氛下制备了一系列YAG：Ce3＋荧光粉样品。通过分峰拟合计算可知，在4种不同的制备条件下，Ce3＋的相对含量（fcc3＋，用Ce3＋峰面积与Ce3＋＋Ce4＋峰面积之比来估算）分别是88．46％，77．55％，75．33％和68．14％，所对应的烧结气氛依次为CO和N2的混合气氛、CO气氛、N2气氛和空气烧结气氛。YAG：Ce3＋荧光粉的发光强度随着Ce3＋相对含量的增加有显著增强．
