编号：NMJS05715
篇名：短波长X射线衍射法测试纳米铝块体的内部残余应力
作者：窦世涛[1] ;郑林[1] ;张朝晖[2] ;张津[3] ;计鹏飞[3] ;何长光[1] ;彭正坤[1] ;肖勇[1]
关键词：纳米铝块体 短波长X射线衍射 无损检测 内部残余应力
机构： [1]西南技术工程研究所,重庆400039; [2]北京理工大学材料学院,北京100081; [3]北京科技大学新材料技术研究院,北京100083
摘要： 利用自主研发的SWXRD-1000型短波长X射线衍射仪对去应力热处理前后纳米铝块体的内部残余应力进行了测试;为研究残余应力沿试样厚度方向的分布,采用Xstress-3000型X射线应力仪对未热处理的纳米铝块体表面残余应力进行了测试。结果表明：纳米铝块体内部的晶粒取向分布均匀;随着热处理温度升高,块体中心处的残余应力呈下降的趋势,中心处的径向残余应力由未热处理时的113MPa降至4MPa,切向残余应力由未热处理时的91 MPa降至38 MPa;未热处理试样厚度方向上的残余应力分布整体呈为外压内拉,直径方向上的内部残余应力呈现出中间高两侧低的分布趋势,且中心附近为残余拉应力。
