资料中心

CO和CO_2分子在缺陷石墨纳米带上的吸附研究

编号:FTJS00890

篇名:CO和CO_2分子在缺陷石墨纳米带上的吸附研究

作者:彭盛霖; 欧阳方平;

关键词:石墨纳米带; 555-777双空位缺陷; 电子结构; 吸附;

机构:

摘要: 采用第一性原理密度泛函方法,研究了双空位缺陷石墨纳米带(GNRs)的几何和电子结构,并探讨了CO和CO_2分子在完整和缺陷带上的吸附行为。研究结果表明,(1)从能量上看,石墨纳米带中的555-777双空位缺陷比585双空位缺陷更趋稳定;(2)通过分析能带结构,发现555-777双空位缺陷的引入未对纳米带的电子结构造成很大的影响;(3)同完整纳米带比较,CO分子更易吸附在缺陷带上,而CO_2分子在完整和缺陷带上都无法吸附。因此,缺陷石墨纳米带有可能用来设计气体传感器。

已经是会员?点这里立即登录,查看原文!
 还不是会员? 点这里立即注册

最新资料
下载排行

关于我们 - 服务项目 - 版权声明 - 友情链接 - 会员体系 - 广告服务 - 联系我们 - 加入我们 - 用户反馈