编号：FTJS09339
篇名：X荧光光谱法快速测定镀锡板无铬钝化膜厚度
作者：曹芸
关键词： 波长色散X射线荧光光谱法 电镀锡 有毒有害元素 X荧光光谱法 镀锡板 膜厚度 测定时间 圆片
机构： 梅山钢铁公司制造管理部
摘要： 镀锡产品被广泛应用于食品罐、饮料罐、气雾罐等包装行业,欧盟REACH指令、RoHS法规和食品安全国家标准GB 9685和GB 4806.9先后对镀锡板中的铅和六价铬等有毒有害元素做出了限制。生产超低铅和无铬钝化镀锡产品,实现绿色制造,是打造梅钢电镀锡精品基地,并走向国际的重要一步。梅钢公司从2009年开始着手无铬钝化工艺的实验和研究。为确保无铬钝化工艺的顺利开展,快捷准确提供膜厚数据是实验顺利进行的前提和生产优良产品的保证。本文采用圆片冲样机将样板制成∅50 mm的圆片,应用波长色散X射线荧光光谱法,用6组化学定值的样品作为标准样板,对钝化膜中的特征元素Ti进行测定。以X射线强度为纵坐标,单位面积膜厚质量为横坐标,制作校准曲线。本方法具有简单快捷,准确度高,精密度好,测定时间短等优点。
