编号：NMJS00880
篇名：纳米SiO_2颗粒在HepG2细胞中的分布及其细胞毒性
作者：孙磊; 李阳; 刘晓梅; 杜忠君; 金明华; 孙志伟;
关键词：纳米SiO2颗粒; 细胞内分布; 线粒体; 细胞毒性;
机构： 吉林大学公共卫生学院卫生毒理学教研室; 首都医科大学公共卫生与家庭医学学院卫生毒理与卫生化学系;
摘要： 目的:检测纳米SiO2颗粒作用于HepG2细胞后纳米颗粒的细胞摄取、分布情况及颗粒对细胞的毒性作用,初步探讨纳米颗粒的摄取、分布与细胞毒性的关系。方法:采用透射电镜(TEM)及动态光散射法检测纳米SiO2颗粒的表征;纳米SiO2颗粒作用HepG2细胞后,用荧光显微镜及TEM观察纳米SiO2颗粒的细胞摄取及细胞内分布情况;不同浓度纳米SiO2颗粒(0、25、50、100及200mg·L-1)作用于HepG2细胞24h后,采用MTT法检测细胞存活率,用Rhodamine123标记流式细胞术检测线粒体膜电位变化。结果:TEM结果显示,纳米SiO2颗粒呈球形,分散性好,大小均一。动态光散射法结果显示,纳米SiO2颗粒在无血清DMEM中粒径约为94nm,分散性较好。纳米SiO2颗粒作用于HepG2细胞3h即可进入细胞;作用24h后,可以单一颗粒或成簇的形态分散在胞质内,并在线粒体等细胞器内沉积;不同浓度纳米SiO2颗粒作用于细胞24h后,各组细胞存活率及线粒体膜电位较对照组均有显著下降(P<0.05),且随着剂量增加细胞存活率和线粒体膜电位降低。结论:纳米SiO2颗粒进入细胞并在细胞器中沉积,可导致线粒体等细胞器的损伤...
