编号：NMJS02226
篇名：X射线Rietveld方法在纳米材料研究领域的应用
作者：周玉华； 宋武林； 柯莉； 曾小川； 谢长生；
关键词：纳米材料； X射线Rietveld； 结构精修； 定量分析； 微结构分析；
机构： 华中科技大学材料科学与工程学院模具技术国家重点实验室； 华中科技大学分析测试中心；
摘要： 纳米材料由于独特的微结构和奇异性能成为当今世界范围内研究与开发的热点。鉴于Rietveld方法在常规固体材料方面广泛而成功的应用,将Rietveld方法引入到纳米研究领域具有重要的意义。简要介绍了Rietveld方法的基本原理及其在纳米材料的晶体结构精修、物相定量分析和微结构分析等方面的应用。
