资料中心

硅凝胶性能对IGBT模块绝缘可靠性影响研究

编号:CYYJ043492

篇名:硅凝胶性能对IGBT模块绝缘可靠性影响研究

作者:肖婉艳 周望君 任亚东

关键词: 硅凝胶 局部放电量 绝缘可靠性 IGBT模块

机构: 株洲中车时代半导体有限公司

摘要: 本文对两种硅凝胶的成分结构、热学性能、物理性能和电学性能进行表征并研究了其高温老化后的退化情况,将两种硅凝胶灌封到高压模块中进行绝缘性能表征和绝缘退化研究。研究结果表明,两种高绝缘强度的硅凝胶粘附性越强、热稳定性越高,其灌封模块的绝缘可靠性越强。

最新资料
下载排行

关于我们 - 服务项目 - 版权声明 - 友情链接 - 会员体系 - 广告服务 - 联系我们 - 加入我们 - 用户反馈