误差率：
分辨率：
1%重现性：
仪器原理：
动态光散射分散方式：
测量时间：
60s测量范围：
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FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪
FT-342 Double electric four-probe resistance ratio tester
一.应用说明Widely used：
覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，
covering film;Conductive polymer film. high and low temperature electric film;Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films.Smelting. sintering. sputtering. coating. Coating layer. resistance. capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material resistance testing.
Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance .semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive
二．描述Description：
采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.
规格型号/ model | FT-342 |
1.方块电阻sheet resistance | 10-4～2×105Ω/□ |
2.电阻率Resistivity | 10-5～2×106Ω-cm |
3.测试电流Test current | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.电流精度Current | ±0.2% accuracy |
5.电阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.显示读数display | 屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.测试方式 | test mode双电测量Double electrical measurement |
8.电源Power | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.误差errors | ≤3%（标准样片结果）（standard samples） |
10.选购功能choose to buy | 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.测试探头test probe | 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
三.参数资料 Parameters
仪器精密，操作简单。
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