卷材厚度：5um - 3mm

卷材宽幅：300mm - 2000mm

卷材直径：100mm - 1000mm

处理速度：10 - 400mm/s

可根据要求实现生长单层膜和多层膜的连续生产，工件尺寸可根据用户要求设计制作。

该系统包含测厚传感器、光学探头、控制系统、数据分析、标记系统等组成。厚度测量范围3 µm - 180µm，光谱测量范围取决于所使用的测量头，分辨率：10-7 x **测量范围 (23Bit)，可重复性：9 x 10-5 x **测量范围。

应用于薄膜、布料、箔材、玻璃、晶片等在线单点/多点厚度测量。

生产线分为：放料、脱膜、水洗、酸洗、水洗、药液浸泡、水洗、烘干、覆膜（或其他工艺）、检测、收卷等工序。

薄膜幅宽：**到1.2米

薄膜厚度：*薄可到6微米

卷绕速度：10-100mm/s

张力控制：闭环张力控制系统，*小可到5N

应用于：耳机或麦克风等声学材料、石墨烯电池、太阳能电池、电子元器件、特种关键元件的制造等。