误差率:
优于±0.6% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)分辨率:
优于±0.5% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)重现性:
优于±0.5% (平均粒径,NIST可溯源标准样品)仪器原理:
静态光散射分散方式:
湿法测量时间:
10秒测量范围:
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LT2100系列是由真理光学**科学家张福根博士及其领导的研发团队设计研创的高性价比粒度仪。相比于前代LT3600系列和LT2200系列,LT2100采用了独特的Hydrolink SM 手动湿法分散进样器,系统内置有高效防干烧超声分散器,保证了样品的有效分散和均匀输送。样品池标准容量**可达500毫升,且具有悬浮式液面感知功能,可自动消除气泡,样品池窗口的拆卸也方便快捷,便于清洁。如此配置,使得LT2100的价格更加实惠。
从光路系统分析上看,LT2100系列主机采用激光衍射法的粒度分析系统,光学模型支持全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选。该仪器承继了真理光学前几代经典仪器的**技术,采用全新的光路设计及改进型的光学模型和优化的反演算法,克服了爱里斑的反常变化(ACAD)对粒度分析结果的干扰。另外,LT2100采用偏振滤波技术,使用斜入射窗口及超大角检测技术,全角度范围无盲区,无需选择分析模式即可在整个粒径范围内获得准确可靠的结果。
LT2100系列激光粒度分析仪的光源采用波长638nm,功率20mW的半导体固体激光器,且集成了恒温系统以保证光源的稳定性。另外该系列仪器采用光路自动对中设计,软件具有SOP功能,自动化程度高。LT2100的粒径测量范围为0.1μm-1000μm;高配版LT2100 Plus粒径测量范围可达0.05μm-1500μm。仪器实时测量速率高达每秒2000Hz,准确度优于±0.6%,重复性优于±0.5%。该仪器在电池材料,制药,涂料,陶瓷,磨料,非金属矿,粉末冶金,化工,地质,水文等领域都有广泛应用。
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