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分光光谱仪种类
MCPD-9800：高动态范围分光
MCPD-6800：紫外/可见/近红外光分光光谱仪
MCPD-7700：高感度分光
膜厚测量
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包裝膜
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膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包装膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能能性薄膜、包装膜
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LB膜测量
蒸馏膜测量
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多点膜厚测量
半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剥离液厚度、湿狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）
树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能能性薄膜、包装膜
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显微分光膜厚仪“OPTM”OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有独家专利可针对透明
Zeta电位・粒径・分子量测量系统ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（ZetaPotential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能
大塚电子利用光技术，开发出各种分析测量装置，给客户提供尖端测量技术支持。以测量技术、应用示例等重点介绍为主，定期举办Webinar(网络研讨会)。
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