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2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。
4 kW SST-mAX X 射线管配备了突破性的 ZETA 技术，可以消除 X 射线管老化效应。 这种“全新射线管”性能可以在 X 射线管整个寿命期间得到保持，同时高灵敏度与 ZETA 技术相结合，确保了在 X 射线管寿命期间可以一直提供快速的分析和简短的测量时间。 ZETA 技术显著减少了对于漂移校正和重新校准的需求，从而提高了仪器的生产率和正常运行时间。
传统 X 射线管会出现钨灯丝挥发，从而导致光管铍窗内部出现沉淀物污染铍窗。 使用此类 X 射线管的仪器需要定期进行漂移校正以补偿下降的强度，尤其是对于轻元素而言。
2830 ZT 采用 SST-mAX 射线管解决了这一漂移问题，从而大大提升了正常运行时间并能够随着时间的推移维持仪器精度。
2830 ZT 配置SuperQ 软件，该软件包含了 FP Multi - 一个专门针对多层分析开发的专用软件包。 该软件的用户界面确保即使是没有经验的操作员也可以对多层进行全自动的基本参数分析。
该仪器的 SuperQ 软件具有多种易于使用的模块，这些模块能够方便研究者和工程师进行灵活的操作。 可以轻松切换配方和调整设备参数以适应用户偏好。
FALMO-2G 可轻松集成到任意实验室或晶片厂中：从简单的人工托架装载到全自动。 完全灵活的设计让晶片厂经理能够选择 FOUP、SMIF 或开放式装入端口，配有一个或两个装入端口配置。 各种配置的 FALMO-2G 均受到符合 GEM300 的软件支持。 FALMO-2G 的占地空间大大降低，而没有损失灵活性、功能。
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波长色散 X 射线荧光 (WDXRF)
随着动力电池和新能源汽车的需求爆发，锂电正极材料也正在快速迭代，其中三元材料逐渐成为动力电池的主流选择。目前三元材料中的镍钴锰成分分析多采用ICP分析方法，化学分析过程相对复杂、分析时间长、梯度稀释误
2021-08-06
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近日，马尔文帕纳科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射线荧光光仪（XRF）"Revontium 极光"正式接受订单，并成功在美国High Desert A
马尔文帕纳科的粒度分析技术以其全面性、用户友好性、在关键行业的广泛应用、可靠性、智能化、自动化以及持续的技术创新而受到业界的高度评价。一台高性能的粒度分析设备，它不但会带来更好的使用体验，还会创造更多
9月21日，第十六届马尔文帕纳科X射线分析仪器用户技术交流会在上海西郊丽笙酒店落下帷幕，此次活动共有150多位业内资深专家、行业用户、企业代表齐聚一堂，聚焦X射线分析仪器技术发展及其热点应用，以丰富的
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