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DX 400比表面积分析仪
DX 400比表面积分析仪
2023年度最受关注产品

参考价格

10-20万元

型号

DX 400

品牌

精微高博

产地

中国

样本

暂无
北京精微高博仪器有限公司

白金会员

|

第18年

|

生产商

工商已核实

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核心参数
  • 误差率:

    小于1%
  • 分辨率:

    小于1%
  • 重现性:

    良好
  • 仪器原理:

    动态色谱法
  • 分散方式:

    气体置换法
  • 测量时间:

    5min
  • 测量范围:

    0.01 g/ml-无上限
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产品特点

脱附峰精准计算

采用吸脱附过程中的脱附过程参与峰面积计算, 经过实 验验证,此方法比吸附法具有更高的精确性和稳定性, 非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的 测定;实验方法可选单点BET或多点BET。

可集联与远程访问

仪器通讯接口为LAN口,可实现一台电脑作为上位机集联控 制,可远程访问和控制该上位机电脑。

独立脱气系统

标配完全独立的脱气系统,吹扫和真空两种方式可选, 对样品的预处理更智能灵活,更方便。不占用分析站预 处理样品,提高测试效率。

运行状态直观显示

仪器前面板上配置状态显示系统,显示仪器的工作原理 图,每个阀位增加LED灯指示电磁阀的通断,在实验过 程中可直观判断仪器的运行过程。


样品卡头**技术

既保留了快插接头安装样品管时的简单易操作性,又没有 快插接头因多次使用导致密封组件受损而引起的漏气。该 卡头可重复拆装且保证密封,相对于快插接头能承受较高 的压力而不泄漏。

安全防护机制

为保证仪器的运行安全, (1)TCD检测器增加尾流传感器,防止其干烧,保证 TCD信号的稳定性,同时延长TCD检测器的使用寿命。 (2)开发出底层的监护程序,监控仪器的运行状况, 当仪器出现异常等危险时,自动控制仪器,解除产生危 险的异常状况,保护仪器和操作人员的安全。

多种杜瓦瓶可选

高性能真空玻璃内胆杜瓦瓶,采用自主研发工艺定制生产, 既有玻璃内胆的保温效果,又有金属内胆的安全性能,不易 碎; 高性价比真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果好,可连续测试 10个以上样品; 金属内胆杜瓦瓶,可获得准确结果,安全系数极高;

软件控制

全新开发的DX 400控制软件是在Windows平台上实现操作控制、数据采集、计算分析和报告预览的智能化软件。

测试结果实时计算

测试界面上动态显示每个样品的吸附过程,吸附峰实时显示,每个样品的BET比表面积实时计算。

DX400软件

仪器控制过程实时记录储存

Message窗口可切换显示,实时记录仪器实验控制过程和软件手动操作信息,方便工程师对异常数据的分析和远程诊断。

典型分析实例

BET比表面积重复性<1%

样品测试次数测量值平均值重复值
G919.1649.190.31%
29.222
39.213
49.158
59.162
69.128

BET比表面积重复性<1%

样品测试次数测量值平均值重复值
石墨11.83971.8450.24%
21.8462
31.8482
41.8518
51.8467
61.8393

超小比表面积0.1 m2/g的重复性达到0.01m2/g

样品测试次数测量值平均值重复值
正极材料10.12350.1220.0033
20.1189
30.1251
40.1159
50.1242
60.1228

BET比表面积稳定性<1%

样品测试次数测量值平均值稳定性
正极材料19.1680.1860.26%
29.213
39.208
49.158
59.162
69.208

BET比表面积平行性<1%

样品不同设备测量值平均值稳定性
G919.1569.1830.28%
29.163
39.213
49.158
59.192
69.218


产品参数

通用参数DX 400系列
测试原理流动色谱法低温氮气吸附
测试气体高纯3:7氮氦混气(99.9999%)
检测器精确到0.1mV的定制型热导池,测试0.1 m2/g的样品可精确到0.01 m2/g。
比表面积范围>0.1 m2/g,标准样品测试重复性<1%,平行性<1%,长时间稳定性<1%
分析站4个
主机规格长700mm×宽410mm×高785mm,重量约30 Kg
环境温度要求15-35℃
环境湿度要求20%-80%,不发生冷凝的环境湿度
电源要求100-240VAC,50/60HZ,**功率200W
推荐应用领域磷酸铁锂、三元、石墨、钴酸锂、锰酸锂等电池正负极材料,以及其他小比表面积材料。


测试功能

型号DX 440DX 420
测试方法单点BET比表面积测试
测试效率4个样品 7min4个样品 15min
氮气分压范围0.3或0.2


创新点

发明专利技术
不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;

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产品质量

10分

售后服务

10分

易用性

10分

性价比

10分
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