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Ultim Max TEM，搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
· 0.2 - 0.6 srad的立体角
· 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的计数率下进行定量分析
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