20kv50kv100kv电压击穿检测仪

一、20kv50kv100kv电压击穿检测仪，适用范围及功能

绝缘材料电气强度试验机， 主要适用于固体绝缘材料（如：塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质）在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。

绝缘材料电气强度试验仪，由电脑控制，通过我公司自主研发的全新智能数字集成电路系统与软件控制系统两部分来完成，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。

二、满足标和美标等要求

GB1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法

GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验

GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法

G/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法

GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法

ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.

三、绝缘材料电气强度试验仪，技术要求：

01、输入电压： 交流 220 V

02、输出电压： 交流 0--50 KV ;

直流 0—50 KV

03、电器容量： 3KVA

04、高压分级：0--50KV，

05、升压速率： 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S 3000V/S 等

（备注：满足标准要求并可以根据用户需求设定不同的升压速率）

06、试验方式：

直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验

交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验

07、试验介质：空气，试验油

08、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.05S内切断电源。

09、采用智能集成电路进行匀速升压。

10、支持短时间内短路试验要求。

11、电压试验精度： ≤ 1％。

12、试验电压连续可调： 0--50KV。

四、 安全保护

绝缘材料电气强度试验机，电路保护控制：

（1）超压保护 （2）过流保护 （3）短路保护（4）漏电保护 （5）软件误操作保护

高压输入回路断电保护控制：

(1)总电源开关 (2)调压器复位开关 (3)高压断电开关 (4)试验箱门安全开关 (5)高压回路开关 (6)漏电保护开关

在介电强度试验是电气安全测试标准所要求的第三次试验。

的介电强度试验在于测量装置的被测电流泄漏，而相位和中性被短路在一起。介电强度测试的测量结果是电流值，其必须低于国际标准的指示极限。

然后使用介电强度测试仪（也称为高压测试仪，介电强度测试仪，闪光测试仪，高压测试仪）来测量该电流。

介电强度测试电压

它在AC或DC中执行，电压从几百伏到几十千伏不等。测试电压的性质和价值的选择由适用于测试产品的标准确定。

在没有标准的情况下，使用以下经验法则：测试总是在与样品操作的电压相同的电压下进行。示例：直接用于电池。交替变压器。

Z大值由下式给出：U test = 2 x U操作+1000 V.

因此，洗衣熨斗制造商将在电压下执行测试：

Utest = 2x230VAC + 1000VAC

= 1460 VAC。

可以使介电强度测试具有破坏性或非破坏性。

破坏性测试

某些标准化测试要求对应用介电强度测试的样品施加高功率源。这需要通过绝缘材料的碳化来破坏所测试的设备。这些测试首先用于测试电力或中高功率电子技术（断路器，开关，变压器，绝缘体等）中使用的元件或设备。

泄漏电流随测试电压变化的演变

在该区域中，高压测试仪进化Z多，并且在测量的准确性和为用户提供的可能性的数量方面获得越来越高的性能。

非破坏性测试的特点是使用低功率介电强度测试仪，其短路电流不超过几毫安，其检测系统准确，快速，可在击穿时立即抑制测试电压。

在大多数情况下，这种快速消失与电流限制相结合，避免了在绝缘体中产生不可修复的穿孔以及在电介质表面或内部沉积碳酸化残余物形成沟槽或缺陷。制造过程中对部件或设备的系统测试使得在测试样品时必须使用这种非破坏性条件。

检测介电强度击穿

因此，必须将击穿电压的精确确定附加到电介质击穿现象的电特性值的测量上。该参数是流过经受电介质的样品的电流。测量仪器实际上有两种检测模式：

- 电流阈值检测，

- 电流变化检测。

当前的阈值检测

当测试电压施加到样品时，您会观察到 - 后者的某个值 - 泄漏电流的成比例增加; 该电流是由于所测试项目的绝缘电阻和/或电容（使用AC，或通过DC中的负载效应）。如图1所示，从电压Uc开始，漏电流非常迅速地增加，并且达到值Ue的击穿电压。

然后电流达到Z大值，其值由介电强度测试站的电流电容确定，或者 - 瞬时值 - 由样品的电容元件的放电电流决定（不能通过介电强度测试的值）测试仪，在某些情况下可能涉及绝缘体的破坏）。电流阈值检测在于选择泄漏电流的值Is，其对应于与Ur非常相似的电压Us，并且将漏电流超过值的任何样本视为差，将其选择为检测阈值。阈值电流Z普遍的值，通常用于非破坏性测试，为1mA。

尽管使用这种检测方法并选择该值对于纯电阻元件（Ic约为10微安）的直流测试没有任何困难，但是对于电容元件的AC测试使用它变得不准确和精细。

当前的变化检测

简化的测试循环

这种检测方式消除了以前方法的缺陷; 故障现象的实际性质证明了这一点。通过观察击穿现象，通过示波器方法，可以断言它们的特征在于测试电路中电流的非常急剧的变化; 后者包括介电强度测试站和测试样品（图2）。故障总是先于局部放电现象，我们将进一步分析。

击穿电流本身通常具有极其陡峭的正向边缘脉冲的形式，持续约1微秒或甚至更短，并且其峰值受到测试台和被测样品的组合特性的限制。如图3所示，放电脉冲实际上没有稳定的水平和伪指数负向边缘，其时间常数是可变的（它取决于击穿时电介质中的能量转移）。

使用仅考虑泄漏电流的快速变化的检测器可以消除由于流过样品的Y久电流（元件的阻抗）引起的误差的原因。

ΔIr= 1mA变化是Z近用于表征击穿的值。它必须与探测器的响应时间相关联。响应时间对于确定击穿电压非常重要。实际上，过快检测（小于1微秒）将使装置对击穿之前的局部放电现象敏感。作为回报，慢速检测（超过几十微秒）会使设备对某些故障不敏感，这些故障的能量（产生ΔIf2.Δt）足以具有破坏性，但其持续时间太短而无法考虑通过探测器。然而，探测器的响应时间应该非常短，以避免某些绝缘体上的微碳化现象或其他绝缘体的明确破坏。