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主要特点：
PI-85 SEM PicoIndenter®是可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。 耦合这两种技术能让研究人员非常精确地定位探头并且使用SEM图像记录测试中材料的整个变形过程。
行业应用：材料、生物、化学、物理相关的政府检测机构、科研院所、高校和大型企业研究机构。
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