针对材料件、电子元器件、电子组件、电子整机乃至电子系统的高可靠、长寿命指标验证的需求，本公司利用自身专家多年在**和民用领域多年开展加速试验技术研究取得的成果和技术服务积累的经验，可为用户提供一套完善的装备加速试验与寿命/可靠性快速评价整体解决方案，提出了一套五位一体的加速试验与快速评价模式——充分利用历史数据评估和预测成套装备/系统的可靠性/寿命趋势、基于加速试验技术验证整机/部组件可靠性/寿命目标要求符合性、开展板级电路与元器件寿命特征检测深入查找产品内部缺陷、针对关键元器件和材料件（密封件）开展加速退化试验和检测分析、可靠性/寿命综合评价等五个方面为确定装备长寿命/高可靠性指标提供支撑。

同时，我们针对新研发的产品高可靠/长寿命验证可能存在的失败风险和带来的经济、时间成本损失，可为客户提供高可靠/长寿命增长和强化解决方案，在正式评价试验前，采取可靠性强化试验手段，帮助企业快速查找产品缺陷，协助采取改进措施，增强产品耐环境能力和强度，降低产品失效概率和应力安全裕度，提高产品一次性通过高可靠/长寿命验证试验的成功概率。