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扫描电迁移率粒径谱仪
扫描电迁移率粒径谱仪

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德国

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GRIMM 气溶胶科技公司

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扫描电迁移率粒径谱仪

SMPS+CSMPS+E双系统

GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器DMA和凝聚核粒子计数器CPC技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同,可以选配移动式:CPC 5403,实验室固定式:CPC 5416 19英寸标准机柜式:CPC 5421系统每次开机时,自动自检以确保系统准确性,自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。自检通过后,软件自动控制采样、测量和数据记录。

测量参数 SMPS+C

1.检测粒径范围:5-350 纳米(M-DMA);

10-1100 纳米(L-DMA)

2.检测浓度范围: 0--108 /cm3

3.粒径通道:*多255通道

4.CPC D50粒径: 4 纳米

5.CPC 响应时间: 4

GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器DMA和法拉第静电计FCE技术结合,配合3种不同的DMA,粒径检测下限可以低至1纳米,检测数量浓度高达109/cm3

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售后服务

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