首页 > 分析仪器设备 > 光学仪器及设备 >
残余应力测量仪PA-Micro
残余应力测量仪PA-Micro

参考价格

面议

型号

品牌

产地

日本

样本

暂无
北京欧屹科技有限公司

会员

|

第2年

|

生产商

工商已核实

留言询价
核心参数
产品介绍
创新点
相关方案
相关资料
用户评论
公司动态
问商家
留言询价
×

*留言类型

*留言内容

*联系人

*单位名称

*电子邮箱

*手机号

提交
点击提交代表您同意 《用户服务协议》《隐私协议》

虚拟号将在 180 秒后失效

使用微信扫码拨号

为了保证隐私安全,平台已启用虚拟电话,请放心拨打(暂不支持短信)
×
是否已沟通完成
您还可以选择留下联系电话,等待商家与您联系

需求描述

单位名称

联系人

联系电话

Email

已与商家取得联系
同意发送给商家
产品介绍
创新点
相关方案
相关资料
用户评论
公司动态
问商家

PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其**技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择

主要特点:
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 高达2056x2464像素的偏振相机。

应用领域:

  • 通信光纤

  • 晶体

技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

2

测量波长

520nm

3

双折射测量范围

0-130nm

4

测量*小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

6

视野尺寸

142x170um3.5x4.2mm(×2×5×10×20×50)

7

选配镜头视野

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制

测量案例:
创新点

暂无数据!

相关方案
暂无相关方案。
相关资料
暂无数据。
用户评论

产品质量

10分

售后服务

10分

易用性

10分

性价比

10分
评论内容
暂无评论!
公司动态
暂无数据!
技术文章
暂无数据!
问商家
  • 残余应力测量仪PA-Micro的工作原理介绍?
  • 残余应力测量仪PA-Micro的使用方法?
  • 残余应力测量仪PA-Micro多少钱一台?
  • 残余应力测量仪PA-Micro使用的注意事项
  • 残余应力测量仪PA-Micro的说明书有吗?
  • 残余应力测量仪PA-Micro的操作规程有吗?
  • 残余应力测量仪PA-Micro的报价含票含运费吗?
  • 残余应力测量仪PA-Micro有现货吗?
  • 残余应力测量仪PA-Micro包安装吗?
残余应力测量仪PA-Micro信息由北京欧屹科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于残余应力测量仪PA-Micro报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
  • 推荐分类
  • 同类产品
  • 该厂商产品
  • 相关厂商
  • 推荐品牌
免费
咨询
手机站
二维码