不仅仅是一个波前探测系统，

更是一个完整光学综合测试系统

不仅可以用于实验室光学测试，

也可以适用于生产环境条件

• 透镜、非球面透镜
• 相机、手机摄像等镜头测试
• 棱镜
• 球面、非球面、平面镜
• 各种滤光片
• 隐形眼镜、眼科镜片
• 复杂光学系统
• 平视显示系统（HUD）
• 研磨板
• 晶圆（wafer)
• 激光

• 光学失常、像差测试
• 波前或表面重建
• 光学元件透过率测试
• 平面度测试
• 楔角测试
• 复杂光学系统对准
• 准直
• 焦长测试
• MTF (调制传递函数）
• PSF (点扩散函数）
• Strehl ratio
• 激光光斑品质、光束、M2、发散角测试

通过使用Zygo GPI xp HR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino 波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域，进行测试对比。

右图白色圆圈位置的区域即为测试区域，是一个平整的表面，测试的波长为632nm，下图为主要测试得到的参数对比：