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SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪
SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

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北京安洲科技有限公司

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SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

900nm —1700 nm

成像系统

SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器,光谱范围为900nm~1700nm。

OC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里,获得的是**质量数据。

使用简单和实时处理

SOC720SW是一个完整的系统,开箱之后即可使用。

系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。

数据以开放的BIL二进制格式保存,可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。

可选的SOC MIDIS™处理器以**的电脑速度快速执行光谱处理,克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。

MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分,使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。

配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统,SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。

SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据,可以很容易的用第三方分析软件打开,如ENVI软件。无须数据格式转换。

技术参数

光谱范围: 900-1700 nm

光谱分辨率: 6.25 nm

光谱通道: 128

光谱失真: <1.5 microns (smile)

数字光圈: F/2.4

TFOV/IFOV (35MM): 10°/0.015625°

分辨率(像素): 640x640 (nominal)

LINE RATE: 30 Spatial Lines/Second

CUBE RATE: 20 Seconds/Cube

数字分辨率: 14-bit

三脚架: 3/8”-16

计算机接口: Cameral-Link

扫描: 内置

供电: AC/12DV

重量: 30 lbs.

尺寸: 7”x14”x22”

应用领域:
机械视觉 

 - 电子学和塑胶

 - 晶片检查

 - 农业品质

 - 化学过程控制

农业领域

 - 精准农业

 - 土地分类

 - 水份胁迫

 - 作物健康

温度记录

 - 火点监测

 - 玻璃检测

 - 金属纯度

军事

 - ISR

 - 边境安全

 - 导弹跟踪

医学领域

 - 血糖分析

 - X线断层摄影术

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SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪信息由北京安洲科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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