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用途：
该系列仪器适用于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度，也可检测线间距离、孔到边线距离，以及圆孔、盲孔和弧的直径等；并适用于IC晶片、薄膜和LCD等线宽线距的测量。
特点：
1、精度：采用可精密调焦装置，以及图像处理、自动寻边和亚像素算法等技术； 2、高效：
①红光LED定位；
②自动寻边技术；
③具备SPC统计分析功能。
技术参数：
项目 | XK25 | |
精度 | ①测量精度 | ±1μm |
②分辨率 | 0.4～2.7μm/pixel | |
③总放大倍率 | 70X～450X | |
④光学放大倍率 | 1.4～9×连续可调 | |
对象 | ①板宽 | ≤760mm |
②视野范围 | 0.53mm×0.4mm～3.3mm×2.5mm | |
③线宽 | 20-1200μm | |
仪器外形尺寸（不含电脑） XK25 | 960mmx780mmx1280mm | |
重量（不含电脑） | 145Kg | |
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