进口APS-100型纳米粒度仪

●一般描述：

1)粒度测量范围10nm ~ 100um

2)可提供详细、**的样品颗粒粒度分析，无须稀释；

3)测试*后，您无须修饰稀释后的样品粒度数据，该仪器可测量非稀释、非透明的样品；

4)比其他粒度仪器更优越的是，您无须预先知道、或猜测样品的粒度分布(PSD)所依赖的形状；

5)该仪器同时采用声学衰减、音速谱线技术来测量非稀释样品的粒度，并可测量固体百分比、PH、电导、温度等参数；

6)我们已有20多年的粒度分析和Zeta电势分析的领导优势；

●工作原理：

1)该仪器采用声波衰减波谱测量技术，可不用稀释样品就可获得样品粒度分布PSD数据，样品测量范围10nm ~ 100um，可同时测量样品的声速波谱、PH、电导、温度等参数；

2)当声音穿过泥浆或胶体时，它会被衰减。其衰减的程度与样品颗粒分布有关。该仪器采用1-100 MHz的频率范围能精确测量声波的衰减程度。因为声波能穿透所有的样品材料，因此采用声波衰减测量原理可应用在高浓度或不透明的样品。样品的沉淀现象不会成为问题，是因为在测量过程中样品可被搅拌或泵驱动。该粒度测量独立于样品的Zeta电势水平。它可分析颗粒从零，到高电荷；

3)该仪器分析快速、简单，而且不须样品稀释，因此可减少时间消耗、错误倾向、遗迹减少改变真实PSD分布；只须简单倾倒，或连续用泵将样品泵入该仪器的样品池，则通过操作软件就可再数分钟内得到测试结果；

4)该操作软件由Lucent朗讯科技公司开发且拥有**，无须假设样品颗粒的形状就可直接计算、给出详细的样品颗粒分布PSD信息。其他所有的仪器如采用光散射技术的，则须软件或操作者假设或猜测样品颗粒是单峰的、双峰的、对数正态的、高斯类型。这种假设会让数据变得不太可靠；

5)**的仪器硬件可简化操作、降低维护费用；

6)该仪器非常适合R&D、QC测量控制、以及在线过程操作；

●软件：

1)该软件已有20年的设计经验。只须按一下鼠标就可开始粒度测量。图象功能强大可使您直接比较数据。测量数据可随时被导入流行的电子数据表软件以进行进一步分析；

2)该仪器非常适合QC质量控制，操作者无须受到高级培训。此外，它非常适合研发，因为它有强大的数据分析功能；

3)该软件采用朗讯的**技术，无须假设样品的颗粒形状。PSD颗粒粒度的结果信息非常详细和全面，可无须标准颗粒样品的校正；

4)右上边图表：

PSD覆盖3个硅土样品(相同的总比例固体)。绿色和红色曲线代表60nm和300nm硅土样品的混合物。该数据可准确反应不同的60/300nm颗粒比率。黄色曲线可反映出300nm的样品；

5)右边图表：

右边表示声波衰减数据，以dB/cm对应频率(MHz)，有3个样品。当300nm颗粒/60nm颗粒的比率上升，衰减曲线的形状发生改变，而衰减程度在上升；

●应用领域：该仪器可广泛用于R&D、工业生产等领域，具体如下：

1)半导体化学机械抛光(CMP)浆料：可直接检测晶片-抛光太大的颗粒，或检测浆料的实际的、详细的粒度分布PSD；

2)陶瓷；墨水；乳化稳定性，水/油，油/水混合物测量添加剂效果；制药；生物胶体；白磷；有机或无机颜料如Ti02、碳黑等；催化剂；矿石；乳胶聚合体，水溶液或非水溶液；