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拥有多位资深的光学设计专家，可以为客户提供专业化的光学系统设计服务以及产品的定制服务。光学设计项目:成像光学设计:红外镜头，手机镜头，指纹仪镜头，照相镜头，CCTV镜头，望远镜头，扫描仪镜头，显微镜头，投影镜头，工业镜头等成像系统的设计。
| 详细参数 | |
| 仪器指标 | 检测项目 |
| 超高精密自动测角仪( PrismMaster HR MOT Goniometer) 测量工作台直径:Φ200mm;单次测量**精度:0.5";多次测量**精度:>0.2";测量范围:0°~360°任意角度;微调旋钮转动精调:+/-30″ | 测量棱镜、多边棱镜、光楔、窗口以及其他平面光学器件 |
| 光学测量工作站( Optical Test Station) 工作波长:525nm; 焦距:测量范围:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重复性:±0.04%~0.3%,精度:±0.04%~±0.3% 后截距及法兰焦距(BFL/FFL):测量范围:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重复性:±0.04%~0.3%,精度:±0.04%~±0.3% 曲率半径:测量范围:-500mm~-5mm,+5mm~+500mm,重复性:±0.04%~0.3%,精度:±0.03%~±0.3% 驱动的XY台面:移动范围:200mm×150mm,分辨率:1μm | 测量柱面和球面透镜的：焦距（ EFL ）、后截距及法兰焦距（ BFL , FFL ）、正/负曲率半径：对于柱面镜，额外测量功能：中心偏差（柱轴的顶线与参照面之间的偏差，参照面可为柱面镜的外沿面）、柱袖与机械参考线的扭转角度。 |
| 通用途紫外/可见光传递函数测试仪(IS-300 UV/VIS MTF TESTSYSTEM) 可测量参数:MTF、**焦平面、场曲、象散、色差、畸变、EFL等;MTF测量精度:+/-0.02MIF;MTF测量重复性:+/-0.01MTF; 场曲:优于+/-5μm;畸变:优于+/-0.5%;焦距测量范围:3mm~1000mm;**数值孔径:0.85 | 在可见光及紫外波段对光学系统或光学组件的传递函数、焦距和畸变等参数进行测量 |
| 镜面定位仪( LENSCAN System) 测量范围:0~600mm光学长度;测量精度:+/-0.15μm;测试重复性:标准偏差 STDEV<100nm(30次测量) | 主要用于光学系统中的透镜间隔和厚度测量 |
| 超高精密全自动球径仪( Automatic Spherometer) 曲率半径测量精度:0.005%;半径测量范围:凸:+3mm~无限;凹:-6mm~无限 | 用于高精度光学样板曲率半径测量和光学元件曲率半径检验 |
| 大口径激光干涉仪( Verifire XP/D Interferometer) 三平板重复性:<2nm,λ/300;RMS重复性:<0.1nm,λ/10，000；条纹分辨率:180条纹;分辨率:>λ/8，000（ 二次通过);相干长度:>100m | 精密测量各种反射面和光学系统的表面面形、精密测量光学系统的传输波前 |
| 菲索型动态干涉仪( Intellium H2000 Interferometer) 测量元件反射率范围:0.1%-100%;测试精度PV值优于100; 1K*1K空间分辨率,优于300的条纹分辨率;相干长度:>328ft(100m) | 测量光学件表面、机械抛光表面和半导体晶片表面 |
| 椭偏仪( Ellipsometer) 光谱范围:190-1100nm;样品**直径:200mm;自动变角范围:15°~90°;单色光源的焦距:160mm | 用于研究分析半导体、电介质、聚合物、金属、多层膜等材料的特性,可测量其透射、反射、相位延迟量、双折射、退偏、散射和穆勒矩阵等 |
| TESA VISIO 300 GL同轴变焦型影像测量仪 XY平面精度:(2.0+4L/1000)μm,(L单位为mm);z轴精度(2.9+5L/1000)μm,(L单位为mm); 测量范围300X200X150mm(X/Y/Z);工作台表面尺寸:510x480m(X/Y);工作台承重:16公斤; | 通过光学成像完成非接触测量，特别适合于冲压件,塑料件，注塑件和丝膜印刷,电子等行业的测量要求 |
| 非球面检测仪( LuphoScan measuring system) 精度(光束入射角度<2°):抛光：Ra<1μm 1μm≤Ra≤3μm ±50mm ±250nm ±1μm ;测量范围:420mm(直径)×80mm(高度); 重复性:±20nm(2σ);纵向分辨率:0.1nm;光斑大小:4μm;**测试口径:420mm | 用于旋转对称表面的光学镜片面形测量,包括球面、非球面、平面、柱面、锥面等 |
| LAS激光定心装配工作台( Laser Alignment and Assembly Station) 测量精度:TIR 0.5um;直线导轨:1250mm;有效工作空间:1.0m;样品台:Φ400mm;空气轴承,承重:900kg; 轴向/径向跳动精度:0.05m,轴晃动:0.025um/25mm;高精度杠杆表:0.1um | 用于光学系统单元装配、系统调试过程中光学元件中心偏差的精密测量和校正 |
| 粗糙度微轮廓仪( Surface Profiler) 测量范围:**可测直径Φ300mm;测量陡度:**可测70°;球面测量的重复性:<100nm | 用于光学元件的表面粗糙度和面形测量 |
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