一、比表面分析仪技术参数如下：

主机功能比表面分析仪：
（1）单点及多点比表面分析仪，并可测定吸附常数C 值
（2）直接对比法比表面分析仪快速测定
（3）Langmuir比表面分析仪

测定范围：（1）比表面分析仪：0.1-3500㎡/g

比表面分析仪重复精度： ≤±3%

比表面分析仪测量原理：动态常压连续氮吸附法，BET原理，直接对比法

比表面分析仪样品种类：  纳米材料，氧化物，氧化硅，氧化锆，催化剂、钴酸锂、锰酸锂、正极材料、锂电池、纤维及其它可装入U型样品管样品

二、产品特点

1.采用本公司**的氮分压精确控制新技术，可实现快速、精确、稳定的气体分压调节，完善了动态法BET测试技术，突破了长期以来国内动态法的技术瓶颈，真正实现动态法BET精确测定。

2. 比表面分析仪中另一个关键技术是测试系统死体积的校正和氮吸脱附峰面积所代表的氮气量体积的标定，若不能准确标定此体积，BET测试就无法实现。该仪器通过独特巧妙的气路设计实现了该参数的准确获得，确保测试结果的准确性。

3. 巧妙的气路系统设计和灵活的软件数据处理相配合，实现了简单的操作即可进行直接对比法，BET法相互转换，有利于用户根据实际需要灵活选择测试方法。

4. 比表面分析仪与国外同类产品相比，该仪器通过对并联气路的改进，可同时进行4个样品的BETBET法比表面积测定，大大提高测试效率。

5. 独立的样品脱气及预处理系统，可减少样品处理对测试系统的干扰和损害；可根据样品不同选择合适的处理方式，预处理和测试可同时进行，提高工作效率。配以我公司研制的样品预处理装置—JW吹扫机，可实现市场同类动态法产品无法实现的真空处理；

6. 比表面分析仪动态测试方法过程十分直观，可以观察到不同氮分压条件下，氮吸附和脱附的全过程，测试程序手动和自动控制有机结合，有利于对测试过程的灵活掌控。
精微高博公司研制JW系列静态容量法及动态法比表面分析仪