精微高博比表面仪两款产品获奖


来源:精微高博

在刚刚结束的2021年度粉体行业“优秀新产品”评选活动中, 精微高博在众多厂商的激烈竞争中脱颖而出,TB400系列比表面积及孔径同步分析仪荣获2021年度粉体行业“优秀新产品奖” ,JW-DX动态氮吸附法比表面积仪荣获2021年度粉体行业“最受关注产品奖” 。

 

该评选活动是在北京粉体技术协会主席团监督下,经中国粉体网编辑审查、评审,并在众多的仪器用户、国内外仪器厂商以及相关媒体的关注和重视下,公开、公平、公正进行。

 

 

JW-DX比表面积测试仪采用专利号为20140320453.2的吸附法专利测试,完全避免了常温下样品脱附不完全带来的测试误差,非常适合粉体生产厂家的在线快速测定。

 

JW-DX型动态氮吸附法比表面积测试仪

 

测试范围:

 

比表面测试范围:>0.0001m2/g,

重复精度:±1%

产品特性:

1、测试速度快,5分钟测试一个样品;

2、吸附峰的峰形尖锐,灵敏度大幅提高;

3、独立4个分析站,实现了多样品的无干扰、无差异测试;

4、外置式4站真空脱气机,避免污染测试单元。

 

 

TB系列比表面积及孔径分析仪,此款产品是精微高博最新推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。测试过程中多个样品共用同一杜瓦瓶同一气源进行测试分析,保证分析测试的准确性和重复性,真正实现多站间无差异化分析。独有的Vtech技术使得TB系列产品的测试效率更高,测试结果更重复、更稳定,更能满足大孔材料的测试需求。


精微高博(JWGB)成立于2004年,推出中国第一台静态容量法氮吸附仪JW-RB,被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”。18年来已发展为集研发、制造、销售、服务于一体的国家级高新技术企业,专业从事比表面积及孔径分析仪、化学吸附仪、竞争性吸附仪、蒸汽吸附仪、真密度仪等物性分析设备的研究,是中国材料表征仪器的领先制造商,产品销售全球十几个国家和地区,致力于向全球客户提供高质量、高易用性、高性价比的产品和服务解决方案。

服务热线400-810-0069转3668


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