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FT-361系列超低阻双电四探针测试仪的标准
一.概述Overview:
四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,*小可以测试到1uΩ方阻值,采用高精度AD芯片控制,恒流输出,液晶显示,自动数据测量,系数补偿,The four probe method tests the resistance and resistivity of ultra-low resistance materials. minimum can test to 1 u Ω square resistance. AD chip with high precision control. constant current output. LCD display. automatic data measured. coefficient of compensation.
参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量. 提供中文或英文语言版本.Refer to the American A.S.T.M. standard.Using The transformation of the current probe and voltage probe to make two times electric measurements. Provide Chinese or English language version.
FT-361系列超低阻双电四探针测试仪的标准
二.广泛用于Widely used:
四探针法测试的 高导电性新材料、铝箔、铜箔等具有类似性质要求测量的材料.
The high conductivity new materials.aluminum foil. copper foil. etc. which have similar properties are tested by four probes test method.
FT-361系列超低阻双电四探针测试仪的标准
三.技术参数Technical Parameters:
规格型号specification model | FT-361A | FT-361B |
1.方块电阻范围sheet resistance | 10-6~2×102Ω/□ | 10-6~2×105Ω/□ |
2.电阻率范围resistivity | 10-7~2×103Ω-cm | 10-7~2×106Ω-cm |
3.测试电流范围test current | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
4.电流精度current accuracy | ±0.1% | |
5.电阻精度resistance accuracy | ≤0.3% | |
6.显示读数display | 液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |
7.测试方式test mode | 组合双电测试方法combined double electric test method | |
8.工作电源working power | 输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30W | |
9.误差errors | 整机不确定性Machine uncertain≤4%(标准样片结果)(standard samples) | |
10.选购功能choose to buy | 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |
11.测试探头test probe | 探针间距选购: 2mm;3mm两种规格; 探针材质选购:碳化钨针、镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状电阻、电阻率、电导率测量
ROOKO瑞柯品牌-------专注于新材料测量与分析仪器解决方案
----解决材料:导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析.
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