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phasics SID4系列波前分析仪
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法国
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产品简介

Phasics SID4系列 波前传感器

法国Phasics 公司的产品基于其波前测量**技术,即4 波横向剪切干涉技术。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将高分辨率和大动态范围较好结合在了一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。具有如下独特技术优势:

高分辨率的相位图,高分辨率可达400300

具有直接测量高发散光束的能力

消色差,匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准。

应用方向:

激光束质量分析

自适应光学

光学系统测量

生物成像

热成像,等离子体表面物理

型号

SID4

SID4-HR

SID4-DWIR

SID4-SWIR

SID4-NIR

SID4-UV

SID4 UV-HR

孔径

3.6 × 4.8 mm2

8.9 × 11.8 mm2

13.44 × 10.08 mm2

9.6 × 7.68 mm2

3.6 × 4.8 mm2

7.4 × 7.4 mm2

8.0 × 8.0 mm2

空间分辨率

29.6 μm

29.6 μm

68 μm

120 μm

29.6 μm

29.6 μm

32 μm

采样点/测量点

160 × 120

400 × 300

160 × 120

80 × 64

160 × 120

250 × 250

250 × 250

波长

400 nm ~ 1100 nm

400 nm ~ 1100 nm

3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm

0.9 ~ 1.7 μm

1.5 ~ 1.6 μm

250 ~ 450 nm

190 ~ 400 nm

动态范围

> 100 μm

> 500 μm

N/A

~ 100 μm

> 100 μm

> 200 μm

> 200 μm

精度

10 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

10 nm RMS

> 15 nm RMS

20 nm RMS

10 nm

灵敏度

< 2 nm RMS

< 2 nm RMS

< 25 nm RMS

3 nm RMS (高增益)< 1 nm RMS (低增益)

< 11 nm RMS

2 nm RMS

@ 250 nm, 2 μJ/cm2

0.5 nm

采样频率

> 100 fps

> 30 fps

> 50 fps

25/30/50/60 fps

60 fps

30 fps

30 fps

处理频率

10 Hz (高分辨率)

3 Hz (高分辨率)

20 Hz

> 10 Hz (高分辨率)

10 Hz

> 2 Hz (高分辨率)

1 Hz

尺寸

54 × 46 × 75.3 mm

54 × 46 × 79 mm

85 × 116 × 179 mm

50 × 50 × 90 mm

44 × 33 × 57.5 mm

53 × 63 × 83 mm

95 × 105 × 84 mm

重量

250 g

250 g

1.6 kg

300 g

250 g

450 g

900 g

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