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Si ATR棱镜
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产品简介

Si ATR棱镜

光学级硅通常规定为具有540ohm-cm的电阻率,其电阻率比大多数半导体的都高。 更高的电阻率材料可客户定制,特别是对于TeraHertz应用。通常的材料为CZ,其在9μm具有Si-O吸收带,因此如果在35μm光谱带中使用该窗口,则此性质不重要。 如果需要FZ,可以提供没有这种吸收的浮区材料。

硅主要用作35um波段的光学窗口并用作光学滤波器的制片基底。 具有抛光面的大块硅也用作物理实验中的中子靶。

硅通过Czochralski拉伸技术(CZ)生长并且包含一些导致9um的吸收带的氧。 为了避免这种情况,硅可以通过浮区(FZ)工艺制备。 光学硅通常轻掺杂(5~40 Ohm cm),以在10um以上的波段**透射。 硅具有30100um的另一通带,其仅在非常高电阻率的未补偿材料中有效。 掺杂通常是硼(p型)和磷(n型)。

详细参数:

透射范围:1.2?15μm1

折射率: 3.4223 @5μm1)(2

反射损耗: 46.2%(5μm)(2个表面)

吸收系数: 0.01cm -1 at 3μm

吸收峰: n / a

dn / dT160×10-6 /℃(3

dn /dμ= 010.4μm

密度: 2.33g / cc

熔点: 1420

热导率: 273.3W m-1 K-1

热膨胀: 2.6×10 -6 /at20

硬度: Knoop 1150

比热容: 703JKg-1K-1

介电常数: 13 at 10GHz

杨氏模量(E): 131GPa4

剪切模量(G): 79.9GPa4

体积模量(K): 102GPa

弹性系数: C11 = 167; C12 = 65; C44 = 804

表观弹性极限: 124.1MPa18000 psi

泊松比: 0.2664

溶解性:不溶于水

分子量: 28.09

类别/结构: 立方钻,Fd3m

折射率:

No = Ordinary Ray

μm

No

μm

No

μm

No

1.357

3.4975

1.367

3.4962

1.395

3.4929

1.5295

3.4795

1.660

3.4696

1.709

3.4664

1.813

3.4608

1.970

3.4537

2.153

3.4476

2.325

3.4430

2.714

3.4358

3.000

3.4320

3.303

3.430

3.500

3.4284

4.000

3.4257

4.258

3.4245

4.500

3.4236

5.000

3.4223

5.500

3.4213

6.000

3.4202

6.500

3.4195

7.000

3.4189

7.500

3.4186

8.000

3.4184

8.500

3.4182

10.00

3.4179

10.50

3.4178

11.04

3.4176

订购信息:

产品型号: SICZPRISM52-20-2-45

IR Polished Silicon (Si) ATR prism (Attenuated Total Reflection)

52 x 20 x 2mm 45° ATR prism.

梯形

产品型号: SICZPRISM80-10-4-45

IR Polished Silicon (Si) ATR prism (Attenuated Total Reflection)

80 x 10 x 4mm 45° ATR prism.

梯形

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